Autori
Ryan Lekivetz (1) e Joseph Morgan (1)
Affiliazioni
(1) JMP Statistical Discovery LLC
Giornale
Conferenza internazionale IEEE 2018 sulla qualità, l'affidabilità e la sicurezza del software (QRS-C)
Data di pubblicazione
2018
Astratto
Gli array di copertura vengono sempre più utilizzati come strumento per determinare casi di test per testare sistemi ingegnerizzati complessi. Il vantaggio principale dell'utilizzo degli array di copertura a questo scopo è che rappresentano un modo efficiente per costruire casi di test efficaci nell'indurre guasti dovuti alla combinazione di più input. Tuttavia, quando si verificano guasti, determinare gli input che li hanno innescati è solitamente un'attività che richiede molto tempo. In questo articolo presentiamo un metodo che consente a un ingegnere di test di analizzare in modo efficiente i risultati di una serie di casi di test sfruttando le conoscenze pregresse sul sistema in esame. Questa analisi fornisce una classificazione delle combinazioni di input che potenzialmente hanno innescato i guasti.
Citazione
Lekivetz, R. e Morgan, J., 2018, luglio. Localizzazione dei guasti: analisi di array di copertura in base alle informazioni precedenti. InConferenza internazionale IEEE 2018 sulla qualità, l'affidabilità e la sicurezza del software (QRS-C)(pagine 116-121). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C.2018.00033 .
