Autoren
Ryan Lekivetz (1) und Joseph Morgan (1)
Zugehörigkeiten
(1) JMP Statistical Discovery LLC
Zeitschrift
2018 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security Companion (QRS-C)
Veröffentlichungsdatum
2018
Abstrakt
Überdeckende Testarrays werden zunehmend als Werkzeug zur Ermittlung von Testfällen für komplexe technische Systeme eingesetzt. Ihr Hauptvorteil liegt darin, dass sie eine effiziente Methode zur Erstellung von Testfällen darstellen, die effektiv Fehler aufgrund der Kombination mehrerer Eingaben auslösen. Tritt jedoch ein Fehler auf, ist die Ermittlung der auslösenden Eingaben in der Regel zeitaufwändig. In diesem Artikel stellen wir eine Methode vor, die es Testingenieuren ermöglicht, die Ergebnisse einer Reihe von Testfällen effizient zu analysieren, indem sie Vorwissen über das zu testende System nutzen. Diese Analyse liefert eine Rangfolge der Eingabekombinationen, die potenziell die Fehler ausgelöst haben.
Zitat
Lekivetz, R. und Morgan, J., Juli 2018. Fehlerlokalisierung: Analyse von Abdeckungsarrays unter Berücksichtigung von Vorinformationen. In2018 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security Companion (QRS-C)(S. 116-121). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C.2018.00033 .
