Auteurs
Ryan Lekivetz (1) et Joseph Morgan (1)
Affiliations
(1) JMP Statistical Discovery LLC
Journal
Actes complémentaires de la conférence internationale IEEE 2018 sur la qualité, la fiabilité et la sécurité des logiciels (QRS-C)
Date de publication
2018
Abstrait
Les tableaux de couverture sont de plus en plus utilisés pour définir des cas de test pour les systèmes complexes. Leur principal intérêt réside dans leur capacité à construire efficacement des cas de test capables de reproduire les défaillances dues à la combinaison de plusieurs entrées. Cependant, lorsqu'une défaillance survient, identifier les entrées responsables est généralement une tâche fastidieuse. Cet article présente une méthode permettant à un ingénieur de test d'analyser efficacement les résultats d'un ensemble de cas de test en exploitant les connaissances préalables sur le système testé. Cette analyse établit un classement des combinaisons d'entrées susceptibles d'avoir déclenché les défaillances.
Citation
Lekivetz, R. et Morgan, J., juillet 2018. Localisation des défauts : analyse des réseaux de couverture à partir d’informations préalables. DansActes complémentaires de la conférence internationale IEEE 2018 sur la qualité, la fiabilité et la sécurité des logiciels (QRS-C)(pp. 116-121). IEEE, https://doi.org/10.1109/QRS-C.2018.00033 .
