저자
조셉 모건(1), 라이언 레키베츠(1) 및 톰 도넬리(1)
소속
(1) JMP Statistical Discovery LLC
신문
2017년 IEEE 제28회 연례 소프트웨어 기술 컨퍼런스(STC)
게시일
2017
추상적인
테스트 엔지니어는 제한된 예산으로 결함 발견 가능성을 극대화하는 테스트 케이스를 선택해야 하는 어려움에 자주 직면합니다. 조합 테스트는 이러한 어려움을 해결하기 위한 효과적인 테스트 케이스 선택 전략입니다. 기본 아이디어는 두 개(또는 그 이상)의 입력 중 어떤 부분집합이 선택되더라도 두 개(또는 그 이상)의 입력에서 가능한 모든 설정 조합을 고려하는 테스트 케이스를 선택하는 것입니다. 현재 조합 테스트는 일반적으로 기본 수학적 구조로 커버링 배열을 사용합니다. 그러나 그 유용성이 입증되었음에도 불구하고 실무자들은 때때로 그 사용을 방해하는 문제에 직면합니다. 예를 들어, 일부 입력 부분집합에 대해 허용되는 설정 조합에 제약 조건이 있는 커버링 배열이 주어졌을 때, 결과 커버링 배열의 커버리지 및 다양성[2] 속성을 어떻게 평가해야 하는지 불분명한 경우가 많습니다.
소환
Morgan, J., Lekivetz, R. 및 Donnelly, T., 2017년 9월. 커버리지 어레이: 허용되지 않는 조합이 존재하는 경우의 커버리지 및 다양성 평가.2017년 IEEE 제28회 연례 소프트웨어 기술 컨퍼런스(STC)(1-4쪽). IEEE, https://doi.org/10.1109/STC.2017.8234455 .
