Autoren
Joseph Morgan (1), Ryan Lekivetz (1) und Tom Donnelly (1)
Zugehörigkeiten
(1) JMP Statistical Discovery LLC
Zeitschrift
2017 IEEE 28. jährliche Softwaretechnologiekonferenz (STC)
Veröffentlichungsdatum
2017
Abstrakt
Testingenieure stehen oft vor der Herausforderung, Testfälle auszuwählen, die die Wahrscheinlichkeit des Auffindens von Fehlern bei begrenztem Budget maximieren. Kombinatorisches Testen ist eine effektive Strategie zur Testfallauswahl, um dieser Herausforderung zu begegnen. Die Grundidee besteht darin, Testfälle auszuwählen, die sicherstellen, dass alle möglichen Kombinationen von Einstellungen aus zwei (oder mehr) Eingaben abgedeckt werden, unabhängig davon, welche Teilmenge von zwei (oder mehr) Eingaben ausgewählt wird. Aktuell basiert kombinatorisches Testen üblicherweise auf einem Überdeckungsarray als mathematischem Konstrukt. Trotz ihrer nachgewiesenen Nützlichkeit stoßen Anwender jedoch mitunter auf Probleme, die ihre Anwendung erschweren. Beispielsweise ist es bei einem Überdeckungsarray mit Einschränkungen hinsichtlich der zulässigen Kombinationen von Einstellungen für eine bestimmte Teilmenge von Eingaben oft unklar, wie die Abdeckungs- und Diversitätseigenschaften [2] des resultierenden Überdeckungsarrays zu bewerten sind.
Zitat
Morgan, J., Lekivetz, R. und Donnelly, T., September 2017. Abdeckung von Arrays: Bewertung von Abdeckung und Diversität bei Vorhandensein unzulässiger Kombinationen. In2017 IEEE 28. jährliche Softwaretechnologiekonferenz (STC)(S. 1-4). IEEE, https://doi.org/10.1109/STC.2017.8234455 .
