Autoren
William Fisher (1), Ryan Lekivetz (1) und Joseph Morgan (1).
Zugehörigkeiten
(1) JMP Statistical Discovery LLC
Zeitschrift
Quality and Reliability Engineering International
Veröffentlichungsdatum
2025
Abstrakt
Das Testen technischer Systeme ist eine komplexe Aufgabe, die häufig von Testingenieuren die Erstellung einer Reihe von Testfällen erfordert, um das Systemverhalten zu untersuchen. Hauptziel ist dabei die Fehlererkennung. Aufgrund von Budget- und anderen betrieblichen Einschränkungen müssen Testingenieure ihre Testfälle oft strategisch zusammenstellen.KombinatorischDas Testen ist eine effektive und effiziente Methode, um solche Testsuiten zu erstellen. Das typischerweise verwendete mathematische Objekt ist ein Überdeckungsarray, dessen Spalten den Faktoren des zu testenden Systems (SUT) entsprechen. In manchen Fällen kann es eine Teilmenge von Faktoren geben, die aufwändig oder schwer zu ändern sind. Im Rahmen der statistischen VersuchsplanungSplit-PlotDesigns werden eingesetzt, wenn schwer veränderbare Faktoren vorliegen, um Randomisierungsbeschränkungen zu berücksichtigen. Wir verfolgen einen ähnlichen strukturellen Ansatz und konzentrieren uns dabei auf die Bewältigung praktischer Implementierungsbeschränkungen, wie beispielsweise die Reduzierung der Anzahl von Resets schwer veränderbarer Faktoren, die kostspielig oder zeitaufwändig sein können. Angelehnt an das Konzept der Split-Plot-Designs aus der Versuchsplanung erweitern wir die Methodik des kombinatorischen Testens, indem wir eine Methode zur Konstruktion von Covering-Arrays mit Split-Plot-Struktur vorstellen. Anschließend demonstrieren wir die Effizienz unserer Methode in einer Fallstudie zur Prüfung einer Implementierung von XGBoost.
Zitat
Fisher, W., Lekivetz, R. und Morgan, J., 2025. Kombinatorisches Testen von technischen Systemen mit schwer veränderbaren Faktoren.Quality and Reliability Engineering International, 41(8), S. 3385-3395, https://doi.org/10.1002/qre.70045 .
