El vídeo grabado con JMP 19 se publicó en junio de 2026.
Las pruebas de vida acelerada (ALT, por sus siglas en inglés) son necesarias para evaluar la fiabilidad de los componentes que deben funcionar correctamente durante largos periodos. Debido a las bajas tasas de fallo en condiciones de uso, los componentes deben someterse a pruebas de alta tensión para generar fallos en un tiempo razonable. Entre los dispositivos que requieren este tipo de análisis de fiabilidad se incluyen dispositivos médicos, circuitos semiconductores, equipos de aviación y otros. Descubra cómo analizar los datos de las pruebas aceleradas para predecir la vida útil en condiciones de uso, tanto para pruebas de tensión constante simples como múltiples, así como para pruebas de tensión progresiva. También se describirá un área de operación segura mediante gráficos de contorno.
Este seminario web abarca: Fit Life by X, Supervivencia Paramétrica, Estrés por Pasos.
Requisitos previos sugeridos:Biblioteca de aprendizaje -Pruebas de vida aceleradas (Fit Life by X)
Vea cómo:
- Utilice las pruebas de vida acelerada (ALT, por sus siglas en inglés) como una forma práctica de estimar la vida útil en condiciones de uso.
- Acceda a una variedad de modelos (Arrhenius, ley de potencias, etc.) para realizar predicciones.
- Identificar un área operativa segura (SOA, por sus siglas en inglés) para múltiples tensiones, lo que puede proporcionar un mapa de confiabilidad de la vida útil del producto.
- Utilice un enfoque de estrés gradual para ahorrar mucho tiempo en comparación con el estrés constante.
- Acceda a modelos de degradación que le permitan extrapolar los tiempos de falla y hacerse una idea de cuál será la confiabilidad.
Definiciones
- Ecuación o modelo de Arrhenius: describe la relación entre la velocidad de reacción y la temperatura en numerosos procesos físicos y químicos. La ecuación relaciona la dependencia del mecanismo de degradación con la temperatura absoluta (T) y, por lo tanto, con el tiempo hasta la falla. El tiempo hasta la falla es aproximadamente exp(Ea/T), donde Ea es la energía de activación. Puede utilizarse para estimar parámetros de fiabilidad en función de los cambios de temperatura.
- Modelo de ley de potencias: ecuación que describe la relación entre el tiempo de falla y la tensión, donde el tiempo de falla es una función de la tensión elevada a un exponente (o potencia). Tiempo de falla ~ tensión^n, donde n es un exponente.
- Censura: Censurar un dato significa excluirlo como tiempo de falla, pero incluirlo en el análisis como tiempo de operación de la pieza. Censura derecha: la tensión en la pieza se detuvo antes de que fallara. Censura de intervalo: la falla de la pieza ocurrió dentro de un intervalo de tiempo conocido. Censura izquierda: la pieza falló en algún momento antes del inicio de la prueba. La censura izquierda no es común en experimentos industriales.
