Das mit JMP 19 erstellte Video wurde im Juni 2026 veröffentlicht.
Beschleunigte Lebensdauertests (ALT) sind erforderlich, um die Zuverlässigkeit von Bauteilen zu bewerten, die über lange Zeiträume einwandfrei funktionieren müssen. Aufgrund der geringen Ausfallraten im Betrieb müssen die Bauteile hohen Belastungen ausgesetzt werden, um Ausfälle innerhalb eines angemessenen Zeitraums zu erzeugen. Zu den Geräten, die solche Zuverlässigkeitsanalysen erfordern, gehören unter anderem Medizinprodukte, Halbleiterschaltungen und Luftfahrtausrüstung. Erfahren Sie, wie Sie beschleunigte Testdaten analysieren, um die Lebensdauer im Betrieb sowohl für Einzel- als auch für Mehrfachbelastungstests sowie für Belastungsrampentests vorherzusagen. Außerdem wird die Ermittlung eines sicheren Betriebsbereichs mithilfe von Konturdiagrammen beschrieben.
Dieses Webinar behandelt folgende Themen: Fit Life by X, Parametric Survival, Step Stress.
Empfohlene Voraussetzungen:Lernbibliothek -Beschleunigte Lebensdauertests (Fit Life by X)
So geht's:
- Beschleunigte Lebensdauertests (ALT) sind eine praktische Methode, um die Lebensdauer unter Einsatzbedingungen abzuschätzen.
- Nutzen Sie verschiedene Modelle (Arrhenius, Potenzgesetz usw.), um Vorhersagen zu treffen.
- Ermitteln Sie einen sicheren Betriebsbereich (SOA) für verschiedene Belastungen, der eine Zuverlässigkeitskarte für die Produktlebensdauer liefern kann.
- Setzen Sie auf einen stufenweisen Stressabbau, um viel Zeit im Vergleich zu konstantem Stress zu sparen.
- Nutzen Sie Degradationsmodelle, mit denen Sie die Ausfallzeiten hochrechnen können, um eine Vorstellung von der zu erwartenden Zuverlässigkeit zu erhalten.
Definitionen
- Die Arrhenius-Gleichung bzw. das Arrhenius-Modell beschreibt den Zusammenhang zwischen Reaktionsgeschwindigkeit und Temperatur für viele physikalische und chemische Prozesse. Die Gleichung stellt die Abhängigkeit des Degradationsmechanismus von der absoluten Temperatur (T) und damit die Ausfallzeit in Beziehung. Ausfallzeit ~ exp(Ea/T), wobei Ea die Aktivierungsenergie ist. Sie kann zur Abschätzung von Zuverlässigkeitsparametern bei Temperaturänderungen verwendet werden.
- Potenzgesetzmodell – Eine Gleichung, die den Zusammenhang zwischen Ausfallzeit und Spannung beschreibt, wobei die Ausfallzeit eine Funktion der Spannung hoch einem Exponenten (oder einer Potenz) ist. Ausfallzeit ~ Spannung^n, wobei n ein Exponent ist.
- Zensierung – Die Zensierung eines Datenpunkts bedeutet, dass dieser zwar als Ausfallzeitpunkt ausgeschlossen, aber weiterhin als Betriebszeit des Bauteils in die Analyse einbezogen wird. Rechtszensierung: Die Belastung des Bauteils wurde vor dessen Ausfall beendet. Intervallzensierung: Der Ausfall des Bauteils trat innerhalb eines bekannten Zeitintervalls auf. Linkszensierung: Das Bauteil fiel vor Beginn des Tests aus. Linkszensierung ist in industriellen Versuchen unüblich.
