Une vidéo réalisée avec JMP 19 a été publiée en juin 2026.
Les essais de durée de vie accélérée (EDVA) sont indispensables pour évaluer la fiabilité des composants devant fonctionner correctement sur le long terme. En raison des faibles taux de défaillance en conditions d'utilisation, les composants doivent être testés sous des contraintes élevées afin de provoquer des défaillances dans un délai raisonnable. Parmi les dispositifs nécessitant de telles analyses de fiabilité figurent les dispositifs médicaux, les circuits semi-conducteurs, les équipements aéronautiques, etc. Cet article explique comment analyser les données d'essais accélérés pour prédire la durée de vie en conditions d'utilisation, aussi bien pour les essais à contrainte constante unique et multiple que pour les essais à contrainte progressive. La définition d'une zone de fonctionnement sûre à l'aide de courbes de niveau sera également présentée.
Ce webinaire aborde les sujets suivants : Fit Life by X, Parametric Survival, Step Stress.
Prérequis suggérés :Bibliothèque d'apprentissage -Tests de durée de vie accélérés (Fit Life by X)
Découvrez comment :
- Utilisez les tests de durée de vie accélérés (ALT) comme moyen pratique d'estimer les durées de vie dans des conditions d'utilisation.
- Accédez à divers modèles (Arrhenius, loi de puissance, etc.) pour effectuer des prédictions.
- Identifier une zone de fonctionnement sûre (SOA) pour de multiples contraintes, qui peut fournir une carte de fiabilité de la durée de vie du produit.
- Adoptez une approche par paliers pour gagner beaucoup de temps par rapport à un stress constant.
- Accédez à des modèles de dégradation qui vous permettent d'extrapoler les temps de défaillance et d'avoir une idée de la fiabilité future.
Définitions
- Équation ou modèle d'Arrhenius - Ce modèle décrit la relation entre la vitesse de réaction et la température pour de nombreux processus physiques et chimiques. Il établit un lien entre la dépendance du mécanisme de dégradation et la température absolue (T), et donc avec le temps de défaillance. Le temps de défaillance est proportionnel à exp(Ea/T), où Ea représente l'énergie d'activation. Ce modèle permet d'estimer les paramètres de fiabilité en fonction des variations de température.
- Modèle de loi de puissance : équation décrivant la relation entre le temps de défaillance et la contrainte, le temps de défaillance étant fonction de la contrainte élevée à une certaine puissance. Temps de défaillance ~ contrainte^n, où n est l'exposant.
- Censure – Censurer une donnée signifie l'exclure du calcul du temps de défaillance, tout en la conservant dans l'analyse du temps de fonctionnement de la pièce. Censure à droite : la contrainte appliquée à la pièce a été interrompue avant sa défaillance. Censure par intervalle : la défaillance de la pièce est survenue dans un intervalle de temps connu. Censure à gauche : la pièce a défailli avant le début du test. La censure à gauche est rare dans les essais industriels.
