探索 JMP® 中驗收抽樣和控製圖監測的基礎知識（美國 2018 110）等級：初學者
Andrew Karl，統計學家，Adsurgo
Heath Rushing，Adsurgo 首席顧問兼聯合創始人
最近，一位醫療設備客戶想要一個腳本來使用操作特性 (OC) 曲線評估不同的標準驗收抽樣計劃。 他們還想從平均出廠質量 (AOQ) 曲線中找到極限，以進行整改檢查。 儘管他們是經驗豐富的 JMP 用戶，但他們並不知道只有在 JMP 入門菜單中才能找到的單樣本和雙樣本 OC 曲線的可用性。 此外，他們沒有使用 Graph Builder 來評估這些抽樣計劃的常見偏差（沒有按計劃進行）或用於開發 AOQ 曲線。 儘管編寫腳本非常有效和高效，但對於新的 JMP 用戶來說，從頭開始編寫腳本可能會讓人不知所措。 但是，可以利用 JMP 的現有功能並輕鬆對其進行調整，以對常見質量問題進行常規和/或重複分析。 本次談話展示了 JMP 現有功能的適應性，以探索和評估與標準質量方法（例如驗收抽樣、過程控制和能力以及實驗設計）的偏差。
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