Questa presentazione si concentra sul miglioramento della precisione negli esperimenti di metrologia attraverso metodologie strutturate e una solida validazione dei sistemi di misura. Introduce il ruolo di KLA nell'ecosistema dell'elettronica, illustrando le sue competenze chiave in sorgenti luminose, ottica, sensori, meccanica, scienze fisiche ed elaborazione di immagini e dati.
Un tema centrale è l'uso strategico della progettazione degli esperimenti (DOE) per identificare i punti di funzionamento ottimali per specifiche configurazioni di sistema. Attraverso l'esplorazione di disegni fattoriali, randomizzazione, replicazione e modellazione predittiva, la DOE consente una profonda comprensione di come molteplici variabili di input influenzino le prestazioni. Una volta identificato un disegno promettente, si applica l'analisi dei sistemi di misurazione (MSA) per convalidarne l'affidabilità, valutandone la ripetibilità, la riproducibilità, la distorsione e la linearità.
La presentazione tratta anche l'accuratezza ingegneristica, l'inizializzazione personalizzata del DOE, i risultati delle simulazioni, lo screening dei processi e la modellazione della variabilità del sistema di misurazione. Le informazioni derivanti dalla metodologia di valutazione del processo di misurazione (EMP) confermano la robustezza della configurazione ottimizzata e la sua elevata capacità di rilevare variazioni di processo. In definitiva, la presentazione dimostra come la combinazione di DOE e MSA fornisca un potente framework per la selezione e la validazione del progetto migliore nello sviluppo di nuovi sistemi.
