La última versión de JMP incorpora una nueva ola de actualizaciones a la plataforma de Diseño de Experimentos (DOE), con nuevas herramientas y flujos de trabajo más inteligentes que facilitan el diseño, la simulación y la exploración de experimentos. Ya sea que esté evaluando factores, simulando respuestas, planificando tamaños de muestra o intentando identificar la causa raíz de un fallo, hay algo nuevo que probar.
Localización de fallas más inteligente con BayesFLo
Entre nuestros expertos del Departamento de Energía (DOE) en JMP, uno de nuestros temas favoritos es probar sistemas complejos (incluido el software estadístico) . Sin embargo, cuando se utiliza una matriz de cobertura y se descubre un fallo, a menudo se queda con una larga lista de combinaciones sospechosas y sin un punto de partida claro.
La Localización de Fallas Bayesianas (BayesFLo) en JMP 19 nos ofrece una forma más inteligente de identificar las causas raíz. Basado en la investigación que Irene Ji inició durante su doctorado e implementada en JMP con la ayuda de Joseph Morgan y Jacob Rhyne, BayesFLo añade un toque probabilístico a la plataforma de Análisis de Arreglos de Cobertura.
¿Qué novedades hay? En lugar de simplemente contar la frecuencia con la que una combinación aparece en los fallos, BayesFLo utiliza la inferencia bayesiana para clasificar las combinaciones según su probabilidad de ser la causa. Esto se traduce en menos empates y mayor claridad para saber por dónde empezar, aprovechando el conocimiento del dominio con una lista ordenada según las probabilidades posteriores.
¿Quieres probarlo? Ve a DOE > Propósito especial > Matriz de cobertura > Análisis en JMP Pro 19 y busca la nueva casilla "Clasificar por probabilidad", que muestra las opciones de BayesFLo.
Los exploradores de potencia y tamaño de muestra reciben un impulso
Si ya ha utilizado los Exploradores de Tamaño de Muestra integrados en JMP, se sentirá como en casa, pero también notará algunas mejoras interesantes. Caleb King, con la ayuda de Yeng Saanchi y Jacob Rhyne, los ha integrado directamente en JMP, lo que significa que ahora son más robustos y las funciones de búsqueda inversa son más flexibles y capaces de gestionar tamaños de muestra mucho mayores. Puede:
- Haga clic en Establecer respuesta específica para resolver la potencia u otras variables de forma más intuitiva.
- Guarde su configuración como archivos JMPDOE para compartirla con colegas o revisarla más tarde.
Estas actualizaciones hacen que los Exploradores de tamaño de muestra sean más flexibles, más potentes y más fáciles de seguir desarrollando en futuras versiones.
Si bien deberías probarlos todos, hay otros nuevos exploradores que quizás también quieras revisar:
Explorador de intervalos de tolerancia paramétricos
Si alguna vez quiso explorar el “amortiguador” adicional que contiene un límite o intervalo de tolerancia en función de la incertidumbre del muestreo, ahora puede hacerlo directamente con el nuevo Explorador de intervalos de tolerancia paramétricos, disponible en DOE>Exploradores de tamaño de muestra>Confiabilidad.
Elija entre distribuciones como normal, lognormal, exponencial, Weibull y SEV, y observe cómo el tamaño de la muestra y los parámetros de distribución influyen en la amplitud o la superación de sus límites de tolerancia. Resulta especialmente útil para distribuciones no normales.
Intervalos de tolerancia no paramétricos Explorador
JMP 19 también presenta un nuevo Explorador de Confianza de Intervalos de Tolerancia No Paramétricos, diseñado para ayudarle a comprender cómo el tamaño de la muestra y las estadísticas de orden afectan el nivel de confianza de un límite o intervalo de tolerancia no paramétrico. Consulte este explorador en DOE > Exploradores de Tamaño de Muestra > Confiabilidad.
Explorador de planes de muestreo único de aceptación
¿Planea una prueba de muestreo de aceptación única? El nuevo Explorador de Planes de Muestreo de Aceptación Única le ofrece una interfaz similar a la de un perfilador para explorar cómo interactúan el tamaño de la muestra, el número de fallos y las tasas de defectos, tanto si utiliza muestreo por lotes (hipergeométrico) como binomial. Establezca valores de NCA y NCR, determine la probabilidad de aceptación o los niveles de riesgo, y visualice líneas de referencia con códigos de colores para guiar sus decisiones. Lo encontrará en DOE > Exploradores de Tamaño de Muestra > Calidad.
Respuestas simuladas más inteligentes
Simular respuestas para un experimento diseñado es una excelente manera de probar diseños antes de recopilar datos. Gracias al excelente trabajo en equipo de Mark Bailey, Joseph Morgan y Jacob Rhyne, JMP 19 nos brinda gran flexibilidad para simular respuestas. La nueva Simulación de Respuestas Mejorada permite simular respuestas mediante coeficientes aleatorios, una excelente manera de simular respuestas, donde se puede investigar qué sucede con las respuestas (y el modelado) cuando solo algunos coeficientes son distintos de cero (y de diferentes magnitudes). Los coeficientes aleatorios ofrecen opciones para aplicar la escasez de efectos , la jerarquía de efectos y la herencia del modelo , que sustentan nuestras suposiciones al diseñar experimentos.
Anteriormente, la opción Coeficientes aleatorios en Simular respuestas solo estaba disponible en Easy DOE y no consideraba la estructura del modelo. Ahora, puede:
- Controla cuántos efectos están activos (escasez).
- Interacciones de escala y cuadráticas relativas a los efectos principales (jerarquía).
- Asegúrese de que si un efecto de segundo orden está activo, sus efectos principales relacionados también lo estén (herencia).
También puede restablecer la semilla aleatoria para mejorar la reproducibilidad, inicializar los coeficientes a una constante y ajustar las proporciones activas para cada tipo de efecto. Esta actualización facilita la simulación de respuestas realistas basadas en sólidos principios estadísticos, ya sea que esté enseñando, probando o simplemente explorando su diseño. Disponible en la mayoría de nuestras plataformas DOE, las nuevas opciones aparecerán al seleccionar Simular Respuestas al crear su tabla de datos.
Diseños de pantalla modernos ahora en Design Explorer
El Explorador de Diseño ha sido un recurso predilecto para comparar rápidamente diseños personalizados, y en JMP 19, ha recibido una importante actualización. Ahora puede explorar diseños de tramado definitivos (DSD) y otras opciones de tramado modernas directamente en el Explorador de Diseño, sin necesidad de crear varias tablas ni cambiar de plataforma.
Esta actualización facilita la creación y comparación de DSD con diferentes cantidades de puntos centrales o ejecuciones adicionales y la exploración de matrices casi ortogonales (NOA) y diseños ortogonales de nivel mixto (OML) que anteriormente estaban ocultos en Clásico>Cribado factorial>Diseño de cribado.
Simplemente inicie Diseño personalizado y, si tiene un modelo de efectos principales con factores categóricos continuos y de dos niveles que se adapten a estos diseños, el Explorador de Diseño le ofrecerá estas opciones adicionales. Incluso si no lo ha usado antes, pruebe el Explorador de Diseño, una excelente manera de explorar las ventajas y desventajas de varios diseños en un solo lugar.
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