光譜數據的後處理和洞察使用 JMP Pro 18 製作的影片於 2025 年 10 月發布。
您是否在處理來自 EDS、XRD 或拉曼光譜儀的資料格式時遇到困難？導出的光譜和報告是否過於靜態，缺乏自訂或深入分析的靈活性？您是否需要能夠靈活進行峰值檢測、基線校正、背景扣除以及生成高品質圖表的工具，以便進行同行評審和演示？
JMP 使研究人員能夠超越靜態的儀器輸出，透過導入原始資料進行完全重新格式化、清理和進階分析。
在本課程中，您將學習如何：
- 重構和探索資料集，以識別隱藏的模式和異常值。
- 應用基線校正、平滑、歸一化和背景扣除來分離真實訊號。
- 利用穩健的演算法檢測和解析雜訊區域中的重疊峰。
- 產生高解析度、可用於出版的圖表，並可完全控制標籤、註釋和格式。
建議先修課程：
- 基本熟悉光譜資料（EDS、XRD、拉曼光譜）或其他曲面資料的取得與使用。
- 熟悉JMP的基本選單與分析功能
進階統計建模
