本指南提供了同時對多個連續製程變數進行製程能力分析的說明。該平台產生一系列報告和圖表，旨在比較不同製程變數之間的效能。
能力分析對話
- 從開啟的 JMP ®資料表中，選擇「分析」>「品質和過程」>「製程能力」 。
- 從“選擇列”中選擇一個或多個連續變數（連續變數帶有藍色三角形），按一下“Y”，按一下“處理” ，然後按一下“確定” 。
如果未將規格限值作為每項指標的列屬性輸入，或有錯誤，則會跳出錯誤視窗。按一下“確定” 。在彈出的視窗中，您可以修正規格限值或選擇已儲存限值的資料表。
其他選項：
- 若要跳過規格限制對話框，請在開啟的對話框中，按一下「顯示規格限制」下的「否（跳過沒有規格限制的列）」 。
- 若要指定子分組，請使用「處理子分組」 。
- 若要指定 sigma，請使用歷史資訊。
- 若要對非常態資料進行能力研究，請使用分佈選項。
過程能力分析報告
JMP 會產生三張圖表，分別顯示每個指標的能力。這些圖表中的指標均標準化至規範限值。
- 目標圖：峰值功率 (Ppk) > 1.0 的測量值繪製在三角形內，峰值功率 (Ppk) < 1.0 的測量值繪製在三角形外。每個點相對於座標軸的位置提供了每個測量值相對於規格限值的分佈（ y軸）和中心位置（ x軸）資訊。選擇“紅色三角形”下的“陰影等級”可新增顏色。
- 能力箱線圖：每個變數的箱型圖。
- 能力指數圖：每個點的 Ppk 值。
注意：使用滑桿更改可接受的 Ppk 閾值。其他選項，例如“個人詳細報告”和“匯總報告” ，可從頂部紅色三角形選單中獲得。
Semiconductor Capability.jmp (Help > Sample Data Folder半導體能力.jmp（幫助 > 範例資料資料夾）
造訪JMP 幫助中的「品質和過程方法 > 過程能力」以了解更多資訊。
