本指南提供了同时对多个连续过程变量进行过程能力分析的说明。该平台生成一系列报告和图表，旨在比较不同过程变量之间的性能。
能力分析对话
- 从打开的 JMP ®数据表中，选择“分析”>“质量和过程”>“过程能力” 。
- 从“选择列”中选择一个或多个连续变量（连续变量带有蓝色三角形），单击“Y”，单击“处理” ，然后单击“确定” 。
如果未将规格限值作为每项指标的列属性输入，或者存在错误，则会弹出错误窗口。单击“确定” 。在弹出的窗口中，您可以更正规格限值或选择已存储限值的数据表。
其他选项：
- 要跳过规格限制对话框，请在打开的对话框中，单击“显示规格限制”下的“否（跳过没有规格限制的列）” 。
- 要指定子分组，请使用“处理子分组” 。
- 要指定 sigma，请使用历史信息。
- 要对非正态数据进行能力研究，请使用分布选项。
过程能力分析报告
JMP 会生成三张图表，分别展示每项指标的能力。这些图表中的指标均已标准化至规范限值。
- 目标图：峰值功率 (Ppk) > 1.0 的测量值绘制在三角形内，峰值功率 (Ppk) < 1.0 的测量值绘制在三角形外。每个点相对于坐标轴的位置提供了每个测量值相对于规格限值的分布（ y轴）和中心位置（ x轴）信息。选择“红色三角形”下的“阴影级别”可添加颜色。
- 能力箱线图：每个变量的箱线图。
- 能力指数图：每个点的 Ppk 值。
注：使用滑块更改可接受的 Ppk 阈值。其他选项，例如“个人详细报告”和“汇总报告” ，可从顶部红色三角形菜单中获得。
Semiconductor Capability.jmp (Help > Sample Data Folder半导体能力.jmp（帮助 > 示例数据文件夹）
访问JMP 帮助中的“质量和过程方法 > 过程能力”了解更多信息。
