이 가이드는 여러 연속 공정 변수에 대한 공정 능력 분석을 동시에 수행하는 방법에 대한 지침을 제공합니다. 이 플랫폼은 다양한 공정 변수의 성능을 서로 비교할 수 있도록 설계된 일련의 보고서와 그래프를 생성합니다.
역량 분석 대화
- 열려 있는 JMP ® 데이터 테이블에서 분석 > 품질 및 프로세스 > 프로세스 역량을 선택합니다.
- 열 선택 에서 하나 이상의 연속 변수를 선택하고(연속 변수는 파란색 삼각형으로 표시됨), Y, 처리 , 확인 을 클릭합니다.
측정값 각각에 대해 열 속성으로 규격 한계가 입력되지 않았거나 오류가 있는 경우 오류 창이 나타납니다. [좋아요] 를 클릭하십시오. 나타나는 창에서 규격 한계를 수정하거나 한계가 저장된 데이터 테이블을 선택할 수 있습니다.
추가 옵션:
- 사양 제한 대화 상자를 건너뛰려면 열리는 대화 상자 에서 '사양 제한 표시' 아래의 '아니요(사양 제한이 없는 열 건너뛰기)'를 클릭합니다.
- 하위 그룹을 지정하려면 프로세스 하위 그룹화를 사용하십시오.
- 시그마 값을 지정하려면 이력 정보를 사용하십시오.
- 비정규 데이터에 대한 능력 분석을 수행하려면 분포 옵션을 사용하십시오.
공정능력 분석 보고서
JMP는 각 측정값의 성능에 대한 세 가지 그래프 요약을 생성합니다. 이 그래프에서 측정값은 사양 한계치로 표준화되었습니다.
- 목표값 그래프 : Ppk > 1.0인 측정값은 삼각형 내부에, Ppk < 1.0인 측정값은 삼각형 외부에 표시됩니다. 각 점의 축에 대한 위치는 각 측정값의 분포( y 축)와 중심( x 축)을 규격 한계치 대비 나타낸 정보를 제공합니다. 빨간색 삼각형 아래에서 음영 수준을 선택하여 색상을 추가할 수 있습니다.
- 능력 상자 그림 : 각 변수에 대한 상자 그림.
- 성능지수 플롯 : 각 지점의 Ppk 값.
참고: 슬라이더를 사용하여 허용 가능한 Ppk 값의 기준치를 변경하십시오. 개별 상세 보고서 및 요약 보고서 와 같은 추가 옵션은 상단의 빨간색 삼각형 메뉴에서 이용할 수 있습니다.
Semiconductor Capability.jmp (Help > Sample Data Folder반도체 성능.jmp (도움말 > 샘플 데이터 폴더)
자세한 내용을 알아보려면 JMP 도움말 의 품질 및 프로세스 방법 > 프로세스 역량을 참조하십시오.
