2025년 6월 26일에 실시한 Web 세미나 「제조업용：JMP를 이용해 대량의 측정 데이터로부터 중요한 요인을 스크리닝하는 방법 ～응답, 설명 변수, 공정을 대상으로～」의 온디맨드판입니다.
그 때의 세미나의 내용을 컴팩트하게 해, 4개의 장에 정리한 것입니다.
통계 분석에서 "스크리닝"은 많은 변수 중에서 유용한 것을 필터링하도록 선택하는 프로세스를 나타냅니다. 본 세미나에서는, JMP의 스크리닝 기능으로서 탑재되고 있는 「응답의 스크리닝」, 「설명 변수의 스크리닝」, 「공정의 스크리닝」에 대해서, 실례와 함께 기능의 특징을 나타냅니다.
※세미나 실시 시점의 최신 버전 「JMP 18.2.1」을 이용하고 있습니다.
※온디맨드용의 배포 자료를 본 페이지로부터 다운로드할 수 있습니다.
1. 많은 변수에서 중요한 변수를 스크리닝(4분 30초)
- 이 세미나의 소개
- 통계 모델에서 변수 스크리닝
- 스크리닝에 관한 JMP 플랫폼
2. 응답 스크리닝
2-1. 스크리닝을 실시하기 전에 데이터의 고찰을 (11분 18초)
2-2. 응답 스크리닝 실시(14분 21초)
3. 설명 변수 스크리닝(8분 53초)
4. 공정 스크리닝(12분 46초)
