반응 표면 및 차단에 대한 질문안녕하세요 JMP 커뮤니티 여러분,
CCD 직교 모델을 사용하여 두 요인에 대한 RSM 연구를 수행하고 싶습니다. 반복 횟수는 3회입니다. 모델을 완료한 후 총 표본 크기는 52입니다. 하지만 하루에 모든 표본을 검정할 수는 없습니다. RSM과 블로킹을 결합할 수 있는지 문의드립니다. CCD 직교 모델을 사용해 보았지만, 요인을 낮은 수준과 높은 수준의 두 가지 수준에서 검정하고 있어서 두 개의 블로킹만 생성됩니다.
저는 맞춤형 DOE 설계를 시도해 봤습니다. 하지만 맞춤형 DOE를 사용해도 제 RSM 설정에서 테스트한 것과 비슷한 수준의 결과를 얻지 못했습니다.
어떤 도움이라도 감사히 받겠습니다.
감사합니다.
실험 설계Re: 반응 표면 및 차단에 대한 질문먼저, 커뮤니티에 오신 것을 환영합니다!
" 하루에 모든 샘플을 테스트 할 수 없다"는 말씀이 무슨 뜻인지 이해가 안 됩니다. 샘플은 실험 단위라고 가정하겠습니다. 측정 과정이나 측정 오차에 대해 우려하시는 건가요? 실험 단위가 시간이 지남에 따라 변할 것이라고 생각하시나요? (예: 성능 저하) 측정 과정의 여러 요인을 고려해서 실험하시는 건가요?
구체적인 조언을 드릴 만큼 상황을 잘 알지는 못하지만, 제 생각은 이렇습니다. 블로킹은 실험 상황에서 잡음 요인을 처리하는 전략입니다. 반응 표면 유형의 설계(예: 최적화 유형 설계)를 수행하는 경우, 이전 연구에서 관심 있는 것으로 이미 발견된 요인에 대한 수준을 최적화하는 것입니다. 제 생각에는 RSM을 수행하기 전에 잡음의 영향을 미리 알고 있어야 합니다. 그렇지 않으면 RSM을 통해 제공되는 더 복잡한 모델을 사용하기에 추론 공간이 부족할 것입니다. 최적화 전에 프로세스가 일관되고 안정적이어야 합니다.
Re: 반응 표면 및 차단에 대한 질문안녕하세요 @BetaAdjustment6 님 ,
커뮤니티에 오신 것을 환영합니다!
토론을 계속하기 위해 제 쪽에서 몇 가지 질문과 설명을 드리겠습니다.
DoE 설정에 3번의 반복 실험이 포함되어 총 52번의 실행이 가능하다고 말씀하셨는데, 이는 "전체 설계 구조"당 13번의 실행이 있다는 것을 의미합니다.
하루에 13번이나 달릴 수 있나요? 아니면 26번이나?
그렇다면 설계 구조와 반복 실험을 존중하여 실행을 분할하고 반복 실험 수에 대한 차단 계수를 추가할 수 있습니다(하루에 실행할 수 있는 설계 구조 수에 따라 다름, 하루에 26번의 실행을 실행할 수 있다면 2단계 차단 계수, 하루에 13번의 실행을 실행할 수 있다면 4단계 차단 계수).
다른 옵션도 있습니다:
이런 방식으로 복제본이 포함된 CCD 직교 설계에는 매일 발생할 수 있는 변화를 고려하는 차단 요소가 포함될 수 있습니다.
이러한 제안이 도움이 되기를 바랍니다.
