晶圓可視化在半導體製造過程中對於缺陷分析、製程優化和良率提升至關重要。本文介紹了一種使用 JMP 整合 Python 環境從批次影像資料集中自動提取特徵的方法。透過利用 OpenCV 等影像處理庫,可以在影像的一致座標處提取 RGB 特徵,從而產生晶圓顏色圖,用於進一步的統計分析。 JMP 與 Python 的整合展示了一種解讀批量晶圓影像資料的實用解決方案。