晶圆可视化在半导体制造过程中对于缺陷分析、工艺优化和良率提升至关重要。本文介绍了一种使用 JMP 集成 Python 环境从批量图像数据集中自动提取特征的方法。通过利用 OpenCV 等图像处理库,可以在图像的一致坐标处提取 RGB 特征,从而生成晶圆颜色图,用于进一步的统计分析。JMP 与 Python 的集成展示了一种解读批量晶圆图像数据的实用解决方案。