JMPのPython統合を用いたウェーハ分析のための画像特徴抽出（2025-US-PO-2427）半導体製造において、ウェーハの可視化は欠陥解析、プロセス最適化、そして歩留まり向上に不可欠です。本研究では、JMPに統合されたPython環境を用いて、バルク画像データセットから特徴を自動抽出する手法を紹介します。OpenCVなどの画像処理ライブラリを活用することで、画像の一貫した座標系におけるRGB特徴を抽出し、ウェーハカラーマップを作成し、さらなる統計分析に活用できます。JMPとPythonの統合は、バルクウェーハ画像データを解釈するための実用的なソリューションを提供します。
自動化とスクリプトデータの探索と可視化
