Estrazione delle caratteristiche delle immagini per l'analisi dei wafer utilizzando l'integrazione Python di JMPLa visualizzazione dei wafer è fondamentale nella produzione di semiconduttori per l'analisi dei difetti, l'ottimizzazione dei processi e il miglioramento della resa. Questo lavoro introduce un metodo per l'estrazione automatizzata di feature da dataset di immagini massive utilizzando l'ambiente Python integrato di JMP. Sfruttando librerie di elaborazione delle immagini come OpenCV, le feature RGB vengono estratte a coordinate coerenti delle immagini per generare mappe di colori dei wafer per ulteriori analisi statistiche. Questa integrazione di JMP e Python dimostra una soluzione pratica per l'interpretazione dei dati di immagini di wafer massive.
