半導體波形功能資料瀏覽器 (2025-US-30MP-2461)半導體裝置和電路容易受到老化損耗的影響，導致性能下降和電路失效。對老化進行表徵和預留裕量對於交付高品質產品至關重要。半導體晶片中的I/O電路需要以更高的電壓運行，才能與採用老一代技術製造的晶片相容。在先進製程節點上，由於尺寸縮放的挑戰，無法製造出更高電壓的裝置。因此，此類電路是透過堆疊低電壓元件來建構的。如果電壓分配不均勻，則可能出現不對稱損耗和電路過早失效。
功能數據瀏覽器 (FDE) 用於分析化學光譜。本文將 FDE 擴展應用於模擬由原生 1.8V 裝置建構的 3.3V VI/O 測試電路的輸出波形下降沿變化。這種變化是由堆疊對裝置中的熱載子注入所引起的。傳統方法是為輸出低電流 (IOL) 的退化產生參數化可靠性模型，然後將其轉換為應用參數（下降時間）。而使用 FDE，可以直接確定波形和下降時間的變化。功能主成分分析法允許使用更少的參數來表示系統，這有助於簡化模型並提高預測能力。
數據探索與視覺化可靠度分析
