In der Halbleiterfertigung ist es aufgrund des kostspieligen und komplexen Prozesses entscheidend, Produktausbeute, Zykluszeit und Qualität aufrechtzuerhalten. Die Aufrechterhaltung der Prozessstabilität und die Fähigkeit, sich von außer Kontrolle geratenen Situationen zu erholen, sind für Produktqualität, Kosten und Lieferung von größter Bedeutung.
Die Verwendung eines strukturierten Problemlösungsansatzes hat sich als äußerst erfolgreich erwiesen, um schnell und systematisch die Grundursache und Lösung zu ermitteln und ein Produkt oder einen Prozess auf disziplinierte Weise und in einem minimalen Zeitrahmen wieder in den Normalzustand zu versetzen.
NXP hat die Fähigkeit und Definition strukturierter Problemlösungen entwickelt und verbessert, integriert in die bekannte Six-Sigma-Methodik.
In dieser Präsentation erfahren Sie, wie Sie die Effektivität und Effizienz steigern und mehrere potenzielle Grundursachen auf die wenigen wahrscheinlichsten eingrenzen können. Dies erreichen Sie, indem Sie statistische Modellierungs- und Screening-Techniken in JMP verwenden, die in grundlegende Six-Sigma-Tools wie 8D, IS-SINOT und Fehlerbaumanalyse integriert sind.
