Dans le secteur de la fabrication de semi-conducteurs, il est crucial de maintenir le rendement, la durée de cycle et la qualité des produits, compte tenu de la complexité et du coût du processus. Maintenir la stabilité du processus et la capacité à se remettre de situations incontrôlables est primordial pour la qualité, le coût et la livraison des produits.
L’utilisation d’une approche structurée de résolution de problèmes s’est avérée très efficace pour identifier rapidement et systématiquement la cause profonde et la solution permettant de ramener un produit ou un processus à la normale de manière disciplinée et dans un délai minimal.
NXP a développé et amélioré la capacité et la définition de la résolution de problèmes structurée, intégrée à la méthodologie bien connue Six SIgma.
Cette présentation explique comment améliorer l'efficacité et l'efficience pour réduire plusieurs causes profondes potentielles à quelques-unes des plus probables en utilisant des techniques de modélisation statistique et de filtrage dans JMP qui sont intégrées aux outils Six Sigma de base, tels que 8D, IS-SINOT et l'analyse de l'arbre de défaillance.
