半导体波形功能数据浏览器 (2025-US-30MP-2461)半导体器件和电路容易受到老化损耗的影响，导致性能下降和电路失效。对老化进行表征和预留裕量对于交付高质量产品至关重要。半导体芯片中的I/O电路需要以更高的电压运行，才能与采用老一代技术制造的芯片兼容。在先进工艺节点上，由于尺寸缩放的挑战，无法制造更高电压的器件。因此，此类电路是通过堆叠低电压器件来构建的。如果电压分配不均匀，则可能出现不对称损耗和电路过早失效。
功能数据浏览器 (FDE) 用于分析化学光谱。本文将 FDE 扩展应用于模拟由原生 1.8V 器件构建的 3.3V VI/O 测试电路的输出波形下降沿变化。这种变化是由堆叠对器件中的热载流子注入引起的。传统方法是为输出低电流 (IOL) 的退化生成参数化可靠性模型，然后将其转换为应用参数（下降时间）。而使用 FDE，可以直接确定波形和下降时间的变化。功能主成分分析法允许使用更少的参数来表示系统，这有助于简化模型并提高预测能力。
数据探索与可视化可靠性分析
