半導体波形のための機能データエクスプローラー (2025-US-30MP-2461)半導体デバイスや回路は経年劣化による摩耗が生じやすく、性能低下や回路故障につながります。高品質な製品を提供するには、経年劣化に対する特性評価とマージン確保が不可欠です。半導体チップのI/O回路は、旧世代の技術で製造されたチップとの互換性を確保するために、より高い電圧で動作する必要があります。しかし、先端ノードでは、スケーリングの課題から高電圧デバイスを構築することができません。そのため、このような回路は低電圧デバイスを積層することで構成されます。電圧分配が均一でないと、非対称な摩耗や回路の早期故障が発生する可能性があります。
機能データエクスプローラ（FDE）は化学スペクトルの解析に用いられます。本研究では、ネイティブ1.8Vデバイスを用いて構築された3.3V/Oテスト回路の出力波形の立ち下がりエッジにおける変化をモデル化するためにFDEを拡張しました。この変化は、スタックペアのデバイスにおけるホットキャリア注入によるものです。従来、出力低電流（IOL）の劣化についてはパラメトリックな信頼性モデルが生成され、それがアプリケーションパラメータ（立ち下がり時間）に変換されます。FDEを用いることで、波形と立ち下がり時間の変化を直接特定できます。機能主成分を用いることで、システムをより少ないパラメータで表現できるようになり、モデルの効率化と予測可能性の向上につながります。
データの探索と可視化信頼性分析
