級別：中級Stefan Nikles，ADI 產品工程師存在多個用於可視化參數空間的 JMP 平台：Contour Plot、Overlay Plot、Surface Plot 和 Scatterplot 3D 等等。 這些在探索包含單個因變量作為兩個自變量的函數的數據時效果很好，但是當需要探索作為三個自變量的函數的數據時（例如，三因子 DOE）則更加困難。 用戶通常必須為一個或多個參數的所有值呈現多個圖，從而難以辨別重要關係。 然而，在許多情況下，主要關注點只是知道因變量超過特定閾值的位置。 例如，在什麼條件下信噪比超過 1？ 或者參數空間中的哪裡是 p 值小於 0.05？ 在本演示文稿中，描述了一種用於從多個繪圖計算單個輪廓級別並將每個繪圖疊加到單個繪圖中的方法。 此方法使用啟用 GUI 的 JSL 腳本來計算輪廓，然後使用雙變量平台中的圖形腳本功能繪製輪廓。 使用這種方法對於驗證我們設備的新測量技術至關重要。
