Nivel: Intermedio
Stefan Nikles, ingeniero de producto, dispositivos analógicos
Existen varias plataformas JMP para visualizar espacios de parámetros: Gráfico de contorno, Gráfico de superposición, Gráfico de superficie y Gráfico de dispersión 3D, por nombrar algunos. Estos funcionan bien cuando se exploran datos que contienen una sola variable dependiente en función de dos variables independientes, pero es más difícil cuando se necesita explorar datos en función de tres variables independientes (p. ej., un DOE de tres factores). Los usuarios normalmente deben recurrir a la presentación de múltiples gráficos para todos los valores de uno o más de los parámetros, lo que dificulta discernir relaciones importantes. En muchos casos, sin embargo, la principal preocupación es simplemente saber dónde la variable dependiente excede un umbral específico. Por ejemplo, ¿bajo qué condiciones la relación señal-ruido excede la unidad? ¿O en qué parte del espacio de parámetros el valor p es inferior a 0,05? En esta presentación, se describe un método para calcular un único nivel de contorno a partir de varias parcelas y superponer cada una de ellas en una única parcela. Este método emplea una secuencia de comandos JSL habilitada para GUI para calcular los contornos, que luego se trazan utilizando la función de secuencias de comandos de gráficos dentro de la plataforma bivariada. El uso de este método fue fundamental en la validación de una nueva técnica de medición para nuestros dispositivos.
