演講嘉賓：康盛 ，中芯國際集成電路製造有限公司，質量與可靠性中心資深經理
揚聲器： 盛康 ，中芯國際質量與可靠性中心高級經理
演講主題 ：大數據挖掘在IC製造中的應用 - 缺陷預測模型
話題： IC製造業大數據挖掘：缺陷預測模型
摘要 ：
2016年AlphaGo擊敗一個又一個人類的頂尖圍棋高手，2017年AlphaGo Zero又擊敗了它的所有前輩，人類進入AI元年。隨著信息技術的不斷發展，數據的應用，特別是大數據在工業界的應用，對製造業也起著越來越重要的作用.IC製造作為高科技密集型的產業，其產品的尺寸和精密度就注定了它的生產離不開數據。本次演講主要介紹了如何利用IC生產中的實時設備監控數據，在未知物理模型的情況下，運用數據挖掘和機器學習的方法，尋找產品缺陷的問題原因，並達到提升質量管控，優化產能，提高生產率的目的。讓我們看到了AI在工業界的前景。通過一些實際案例分享，康先生將會介紹JMP的模型預測功能在實際IC製造過程中，對於產品缺陷預測和電性參數的趨勢預測所發揮的作用。希望基於這些案例，能對其他領域的用戶有所啟發。
抽象：
2016年，AlphaGo逐一擊敗了頂級圍棋選手。2017年，AlphaGo Zero在沒有人類經驗的情況下通過自學而擊敗了所有前輩。從那以後，人類進入人工智能的第一年。隨著信息技術的不斷發展，數據的應用，尤其是大數據在工業中的應用，在製造業中發揮著越來越重要的作用。集成電路（IC）製造是一個高科技密集型產業。產品的非常小的尺寸和高精度的要求注定與數據分析有著非常密切的關係。本講座主要介紹如何利用IC生產中的實時設備監控數據，通過數據挖掘和機器學習方法找出缺陷的根本原因，從而實現質量改進，降低成本和提高生產率。讓我們看看人工智能在行業中的力量和前景。我們將分享一些實際案例，介紹如何在基於IC製造數據的WAT的缺陷預測和虛擬計量中使用JMP的模型預測功能。我們希望這些案例能夠激發靈感。
