레벨: 중급 Stefan Nikles, 제품 엔지니어, Analog Devices 매개변수 공간을 시각화하기 위해 Contour Plot, Overlay Plot, Surface Plot 및 Scatterplot 3D와 같은 여러 JMP 플랫폼이 있습니다. 이들은 두 개의 독립 변수의 함수로 단일 종속 변수를 포함하는 데이터를 탐색할 때 잘 작동하지만 세 개의 독립 변수(예: 3-요인 DOE)의 함수로 데이터를 탐색해야 하는 경우에는 더 어렵습니다. 사용자는 일반적으로 하나 이상의 매개변수의 모든 값에 대해 여러 플롯을 표시해야 하므로 중요한 관계를 식별하기 어렵습니다. 그러나 많은 경우에 주요 관심사는 단순히 종속 변수가 특정 임계값을 초과하는 위치를 아는 것입니다. 예를 들어 어떤 조건에서 신호 대 잡음비가 1을 초과합니까? 또는 매개변수 공간에서 0.05보다 작은 p-값은 어디에 있습니까? 이 프레젠테이션에서는 여러 플롯에서 단일 등고선 수준을 계산하고 각각을 단일 플롯으로 오버레이하는 방법에 대해 설명합니다. 이 방법은 GUI 지원 JSL 스크립트를 사용하여 윤곽을 계산한 다음 Bivariate 플랫폼 내에서 그래픽 스크립팅 기능을 사용하여 그려집니다. 이 방법의 사용은 장치에 대한 새로운 측정 기술을 검증하는 데 필수적이었습니다.
