Livello: Intermedio
Stefan Nikles, ingegnere di prodotto, dispositivi analogici
Esistono diverse piattaforme JMP per visualizzare gli spazi dei parametri: Contour Plot, Overlay Plot, Surface Plot e Scatterplot 3D, solo per citarne alcuni. Funzionano bene quando si esplorano dati contenenti una singola variabile dipendente in funzione di due variabili indipendenti, ma è più difficile quando è necessario esplorare i dati in funzione di tre variabili indipendenti (ad esempio, un DOE a tre fattori). Gli utenti devono comunemente ricorrere alla presentazione di grafici multipli per tutti i valori di uno o più parametri, rendendo difficile distinguere le relazioni importanti. In molti casi, tuttavia, la preoccupazione principale è semplicemente sapere dove la variabile dipendente supera una soglia specifica. Ad esempio, in quali condizioni il rapporto segnale/rumore supera l'unità? O dove nello spazio dei parametri il p-value è inferiore a 0,05? In questa presentazione, viene descritto un metodo per calcolare un singolo livello di contorno da più grafici e sovrapporre ciascuno in un unico grafico. Questo metodo utilizza uno script JSL abilitato alla GUI per calcolare i contorni, che vengono quindi tracciati utilizzando la funzione di scripting grafico all'interno della piattaforma bivariata. L'uso di questo metodo è stato essenziale nella validazione di una nuova tecnica di misurazione per i nostri dispositivi.
