Niveau: Mittelstufe
Stefan Nikles, Produktingenieur, Analog Devices
Es gibt mehrere JMP-Plattformen zur Visualisierung von Parameterräumen: Contour Plot, Overlay Plot, Surface Plot und Scatterplot 3D, um nur einige zu nennen. Diese funktionieren gut, wenn Daten untersucht werden, die eine einzelne abhängige Variable als Funktion von zwei unabhängigen Variablen enthalten, aber es ist schwieriger, wenn man Daten als Funktion von drei unabhängigen Variablen untersuchen muss (z. B. ein Drei-Faktor-DOE). Benutzer müssen häufig auf die Darstellung mehrerer Diagramme für alle Werte eines oder mehrerer Parameter zurückgreifen, was es schwierig macht, wichtige Beziehungen zu erkennen. In vielen Fällen geht es jedoch in erster Linie darum, zu wissen, wo die abhängige Variable einen bestimmten Schwellenwert überschreitet. Unter welchen Bedingungen überschreitet beispielsweise das Signal-Rausch-Verhältnis Eins? Oder wo im Parameterraum ist der p-Wert kleiner als 0,05? In dieser Präsentation wird ein Verfahren zum Berechnen einer einzelnen Konturebene aus mehreren Diagrammen und zum Überlagern von jedem zu einem einzelnen Diagramm beschrieben. Diese Methode verwendet ein GUI-fähiges JSL-Skript, um die Konturen zu berechnen, die dann mithilfe der Grafikskriptfunktion innerhalb der bivariaten Plattform geplottet werden. Die Verwendung dieser Methode war für die Validierung einer neuen Messtechnik für unsere Geräte unerlässlich.
