Niveau : Intermédiaire
Stefan Nikles, ingénieur produit, Analog Devices
Plusieurs plates-formes JMP existent pour visualiser les espaces de paramètres : Contour Plot, Overlay Plot, Surface Plot et Scatterplot 3D, pour n'en nommer que quelques-unes. Celles-ci fonctionnent bien lors de l'exploration de données contenant une seule variable dépendante en fonction de deux variables indépendantes, mais c'est plus difficile lorsqu'il faut explorer des données en fonction de trois variables indépendantes (par exemple, un DOE à trois facteurs). Les utilisateurs doivent généralement recourir à la présentation de plusieurs graphiques pour toutes les valeurs d'un ou plusieurs des paramètres, ce qui rend difficile de discerner les relations importantes. Dans de nombreux cas, cependant, la principale préoccupation est simplement de savoir où la variable dépendante dépasse un seuil spécifique. Par exemple, dans quelles conditions le rapport signal sur bruit dépasse-t-il l'unité ? Ou où dans l'espace des paramètres la valeur de p est-elle inférieure à 0,05 ? Dans cette présentation, une méthode est décrite pour calculer un seul niveau de contour à partir de plusieurs tracés et superposer chacun en un seul tracé. Cette méthode utilise un script JSL compatible avec l'interface graphique pour calculer les contours, qui sont ensuite tracés à l'aide de la fonction de script graphique de la plate-forme bivariée. L'utilisation de cette méthode était essentielle dans la validation d'une nouvelle technique de mesure pour nos appareils.
