검사 장비에 대한 JMP 베타 분석 사용Thorsten Roberts, 미 육군 ARDEC
배경 - 국방부 (DoD) 애플리케이션의 제조 공정에서 생산 라인에는 개별 품목을 수락하기위한 최종 검사 또는 합의 된 샘플을 기반으로 한 제품 로트로 통합 된 자동 수락 검사 장비 (AAIE)가 종종 있습니다. AAIE 자체는 제조 라인에서 사용하기 위해 수용되어야합니다. 최근 AAIE는 제조 된 결함을 성공적으로 거부하고 허용 오차 범위 내에서 제조 된 부품을 거부하지 않는 다수의 마스터를 검사해야했습니다. AAIE의 실패율은 일반적으로 1,000 분의 1 미만의 낮은 신뢰 경계를 필요로합니다. 이 상황에서는 설치 시간을 포함하여 단일 검사를 완료하는 데 약 1 시간이 필요했습니다. 0 검사 실패로 인한 80 % 일방 신뢰 신뢰도에서 최소 1610 개의 검사가 필요합니다. 이것은 수락 장비 검증을위한 약 2 년간의 결과 테스트입니다. 변수 증명 자료의 대체 분석을 사용하면 훨씬 적은 횟수로 AAI를 검증 할 수 있습니다.
데이터 액세스 및 조작포스터품질 및 신뢰성
