프로세스 능력모든 응답에 대한 사양을 추가했습니다. 모두 사양 범위 내에 있지만, 공정 능력 그래프를 그릴 때 능력 지수 플롯은 모두 1(Ppk 값) 미만입니다.
왜 그런지 이해가 안 가요. CCP도 1 미만인데. 사양 범위를 늘려야 할까요? 도와줄 수 있나요?
고급 통계 모델링Re: 공정 능력안녕하세요 @도나드리스티 ,
이미지만으로는 설명하기 어려운데, 데이터셋을 제공해 주시겠어요? 이미지를 보면 일부 공정 변수의 분산/변동성이 상당히 크고, 많은 변수의 평균이 이동한 것을 알 수 있습니다.
감사해요,
벤
Re: 공정 능력답변해 주셔서 감사합니다. 데이터 세트는 다음과 같습니다.
Re: 공정 능력안녕하세요 @도나드리스티 ,
JMP 데이터 테이블에 사양 제한을 제공해 주시거나, 엑셀과 함께 제공해 주시겠어요? 그게 없으면 분석을 할 수 없습니다.
감사해요,
벤
Re: 공정 능력여기 있습니다. 사양이 포함된 JMP 테이블입니다.
Re: 공정 능력
USL 또는 LSL 수준에 정확히 맞는 목표를 설정하는 것은 바람직하지 않습니다. 이상적으로는 목표가 두 수준 사이에 위치하는 것이 좋습니다. 설정값이 스펙 한계 설정값과 크게 다릅니다. 이제 진짜 질문은 다음과 같습니다. 스펙 한계가 현재 상황에 적합한가요? 스펙 한계는 어떻게 결정되었나요? 결과가 반드시 충족해야 하는 중요한 품질 지표로 엄격하게 설정되어 있나요? 그렇다면 응답 결과가 해당 목표를 달성하지 못하는 이유를 조사해 보는 것이 좋습니다.
SPC 적용에 대한 프로세스를 검토하고 더 잘 이해하시는 것이 가장 좋을 것 같습니다. 여기 와 여기에 유용한 자료들이 있습니다. 또한 JMP의 다른 플랫폼들(예: 배포 플랫폼)을 살펴보시면 현재 대응 방식과 설정하신 제한 사항을 간략하게 살펴보실 수 있습니다.
도움이 되길 바랍니다!
감사해요,
벤
Re: 공정 능력벤, 정말 고마워요. 다시 살펴보고 분석해 볼게요.
Re: 공정 능력안녕하세요 @도나드리스티 ,
사양을 벗어난 포인트가 없을 때에도 낮은 Ppk가 발생하는 이유는 Ppk가 원시 데이터 자체가 아니라 데이터의 적합 분포를 기반으로 하기 때문입니다.
여기서 데이터의 변동성과 적은 표본 크기로 인해 적합 분포의 꼬리 부분이 원시 데이터보다 훨씬 크고 규격 한계를 넘는 것을 확인할 수 있습니다. 적합 분포는 표본을 더 많이 수집하면 결국 규격 범위를 벗어나는 값을 갖게 된다는 것을 의미합니다. 이것이 공정 능력에 있어 데이터에 적합한 분포를 적용하는 것이 매우 중요한 이유입니다.
스티브
