Quando si parla di industria dei semiconduttori, si pensa spesso all'enorme quantità di dati e al rapido processo di ottimizzazione dei prodotti. Un simile ecosistema industriale presenta un elevato grado di adesione a JMP e le sue funzionalità di analisi statistica interattiva, rapide e precise, sono molto apprezzate dai clienti del settore dei semiconduttori. Nell'ambiente di lavoro dell'industria dei semiconduttori, quando si verificano condizioni avverse, è spesso necessario identificare la fonte del problema e adottare rapidamente misure di miglioramento. La fase più difficile è come individuare rapidamente i fattori di influenza più rilevanti tra centinaia o migliaia di parametri. In passato, gli ingegneri potevano fare affidamento solo sulla loro esperienza pregressa per provare lentamente a correggere gli errori nei parametri sospetti e individuare i fattori chiave. Questo approccio non solo richiede molto tempo, ma rischia anche di trascurare indicatori importanti. Trovare rapidamente le indicazioni per ottimizzare i processi è sicuramente una delle sfide più importanti che ogni team di ingegneria si trova ad affrontare.
Caso 1: Come trovare i parametri chiave nei dati di test con più di 600 parametri
Prendendo come esempio i dati dei test EWS sui semiconduttori, ci sono più di 600 indicatori di parametri. Confrontare e classificare il loro impatto sui contenitori speciali potrebbe richiedere molto tempo se si utilizza il metodo tradizionale. Utilizzando lo screening predittivo e lo screening della risposta di JMP, è possibile confrontare rapidamente l'impatto di più parametri sui risultati, completare l'attività in millisecondi e individuare rapidamente i parametri con il maggiore impatto sul Bin 10. Quindi, utilizzando lo strumento di analisi grafica interattiva Graph builder, è possibile disegnare rapidamente un grafico a dispersione dei parametri chiave e del Bin 10 e colorarli in base ai diversi lotti, chiarendo rapidamente che la maggior parte dei dati problematici proviene dai lotti da 16 a 29 e analizzando l'origine del problema in un attimo.

Figura 1: Utilizzando lo screening predittivo e lo screening della risposta di JMP, è possibile confrontare rapidamente l'impatto di più parametri sui risultati.

Figura 2: Utilizzo del diagramma di dispersione di JMP per comprendere rapidamente la fonte del problema
Caso 2: Come migliorare il processo e trovare rapidamente la migliore combinazione di fattori
Un altro problema comune nei semiconduttori è come migliorare il processo e trovare la migliore combinazione di formule. La maggior parte dei precedenti software di analisi statistica non è in grado di fornire suggerimenti per combinazioni sperimentali efficaci oppure gli esperimenti progettati presentano numerose limitazioni sperimentali, come i tipi di gruppi e le impostazioni dei fattori. Tali problemi rendono l'analisi dei dati piena di imprecisioni e causano costi aggiuntivi. La piattaforma di esperimenti personalizzati di JMP fornisce una progettazione sperimentale ottimizzata, aiutando gli utenti a completare la costruzione di modelli accurati con la combinazione sperimentale più conveniente.
Prendendo come esempio il caso del confezionamento e del collaudo del wire bond, se vogliamo ottenere il valore massimo del taglio della sfera e dell'IMC%, possiamo utilizzare la piattaforma sperimentale personalizzata di JMP per progettare esperimenti in base al numero di gruppi che possiamo permetterci e ai tipi appropriati di fattori. Grazie ai dati raccolti attraverso tali combinazioni di progettazione sperimentale, gli utenti possono seguire il percorso di analisi guidato da JMP per ottenere un buon modello narrativo. Inoltre, utilizzando la piattaforma Profiler di JMP, possiamo trovare rapidamente la combinazione di formule ottimale che soddisfa più condizioni sui più modelli ottenuti. Questa funzione può aiutare notevolmente gli utenti nello sviluppo di nuovi processi o nel miglioramento di quelli esistenti.

Figura 3: Utilizzo di JMP per ottenere un modello di regressione e classificare i parametri importanti

Figura 4: Ricerca della combinazione ottimale dei parametri nel modello
In sintesi, a differenza di altri software tradizionali di analisi statistica, JMP è in grado di offrire ai clienti un'esperienza utente eccellente e di fornire risultati più rapidi, più completi e più pratici. I vantaggi di JMP sono evidenti. Ecco alcuni dei vantaggi che vengono spesso menzionati:
- Grafico di analisi dinamica interattiva
- Collega i grafici dei dati per trovare facilmente le correlazioni
- Piattaforma di analisi statistica facile da usare
- Una varietà di strumenti di modellazione predittiva per individuare i fattori chiave e ottimizzare le combinazioni di parametri
- Creazione di script di report rapidi e semplici
JMP detiene una quota di mercato del 97% nel settore dei semiconduttori a Taiwan e gode di una forte credibilità. È diventato un linguaggio di riferimento per discutere di argomenti di settore. Molte aziende utilizzano JMP per generare i risultati delle analisi ed evitare lunghi tempi di verifica. Per gli utenti che necessitano di analisi statistiche sul lavoro, lo strumento statistico JMP, facile da usare, può aiutarli a migliorare significativamente l'efficienza del loro lavoro di oltre il 30%.
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