Spricht man über die Halbleiterindustrie, denkt man oft an die riesigen Datenmengen und den rasanten Produktoptimierungsprozess. Ein solches industrielles Ökosystem ist in hohem Maße mit JMP kompatibel und seine schnellen und genauen interaktiven statistischen Analysefunktionen erfreuen sich bei Halbleiterkunden großer Beliebtheit. Im Arbeitsumfeld der Halbleiterindustrie ist es oft notwendig, die Ursache des Problems zu identifizieren und bei widrigen Bedingungen schnell Verbesserungsmaßnahmen einzuleiten. Die schwierigste Phase besteht darin, aus Hunderten oder Tausenden von Parametern schnell die relevantesten Einflussfaktoren zu finden. In der Vergangenheit konnten sich Ingenieure lediglich auf ihre Erfahrungen verlassen und nach und nach verdächtige Parameter ausprobieren und aussortieren, um die Schlüsselfaktoren zu finden. Dieser Ansatz ist nicht nur zeitaufwändig, sondern kann auch dazu führen, dass wichtige Indikatoren übersehen werden. Die schnelle Ermittlung von Richtungen zur Prozessoptimierung ist definitiv eine große Herausforderung für jedes Entwicklungsteam.
Fall 1: So finden Sie die Schlüsselparameter in Testdaten mit mehr als 600 Parametern
Am Beispiel der EWS-Testdaten von Halbleitern gibt es mehr als 600 Parameterindikatoren. Der Vergleich und die Einstufung ihrer Auswirkungen auf spezielle Behälter kann bei Verwendung der herkömmlichen Methode sehr zeitaufwändig sein. Mithilfe der Prädiktor- und Antwort-Screening-Funktionen von JMP können Sie die Auswirkungen mehrerer Parameter auf die Ergebnisse schnell vergleichen, die Aufgabe in Millisekunden erledigen und rasch die Parameter mit der größten Auswirkung auf Bin 10 ermitteln. Anschließend können Sie mithilfe des interaktiven Grafikanalysetools „Graph Builder“ rasch ein Streudiagramm der wichtigsten Parameter und von Bin 10 zeichnen und diese entsprechend den verschiedenen Lots einfärben. Dadurch wird schnell klar, dass die meisten problematischen Daten aus den Lots 16 bis 29 stammen, und die Analyse der Problemquelle dauert nur einen Augenblick.
Abbildung 1: Mithilfe des Prädiktor-Screenings und des Response-Screenings von JMP können Sie schnell die Auswirkungen mehrerer Parameter auf Ihre Ergebnisse vergleichen.
Abbildung 2: Mithilfe des Streudiagramms von JMP können Sie die Ursache des Problems schnell erkennen
Fall 2: So verbessern Sie den Prozess und finden schnell die beste Faktorkombination
Ein weiteres häufiges Problem bei Halbleitern besteht darin, den Prozess zu verbessern und die beste Formelkombination zu finden. Die meisten der bisherigen statistischen Analyseprogramme können keine Vorschläge für wirksame Versuchskombinationen machen, oder die geplanten Versuche weisen zahlreiche experimentelle Einschränkungen auf, beispielsweise hinsichtlich der Gruppentypen und Faktoreinstellungen. Solche Probleme führen zu Ungenauigkeiten in der Datenanalyse und verursachen zusätzliche Kosten. Die benutzerdefinierte Experimentierplattform von JMP bietet ein optimiertes experimentelles Design und unterstützt Benutzer dabei, eine genaue Modellkonstruktion mit der kosteneffektivsten experimentellen Kombination durchzuführen.
Wenn wir beispielsweise den Fall des Drahtbondens bei Verpackung und Prüfung betrachten und den Maximalwert für Kugelscherung und IMC% erreichen möchten, können wir mithilfe der benutzerdefinierten Experimentierplattform von JMP Experimente auf Grundlage der Anzahl der Gruppen entwerfen, die wir uns leisten können, und der entsprechenden Arten von Faktoren. Mit den durch solche experimentellen Designkombinationen gesammelten Daten können Benutzer dem von JMP geleiteten Analysepfad folgen, um ein gutes narratives Modell zu erhalten. Darüber hinaus können wir mithilfe der Profiler-Plattform von JMP schnell die optimale Formelkombination finden, die mehrere Bedingungen der erhaltenen mehreren Modelle erfüllt. Diese Funktion kann Benutzern bei der Entwicklung neuer Prozesse oder der Verbesserung bestehender Prozesse eine große Hilfe sein.
Abbildung 3: Verwenden von JMP zum Erstellen eines Regressionsmodells und zum Einstufen wichtiger Parameter
Abbildung 4: Finden der optimalen Parameterkombination im Modell
Zusammenfassend lässt sich sagen, dass JMP im Gegensatz zu anderer herkömmlicher statistischer Analysesoftware den Kunden ein hervorragendes Benutzererlebnis bieten und schnellere, umfassendere und praktischere Ergebnisse liefern kann. Die Vorteile von JMP liegen auf der Hand. Hier sind einige der Vorteile, die oft genannt werden:
- Interaktives dynamisches Analysediagramm
- Verknüpfen Sie Datendiagramme, um Korrelationen einfach zu finden
- Benutzerfreundliche Plattform für statistische Analysen
- Eine Vielzahl von prädiktiven Modellierungstools zum Auffinden von Schlüsselfaktoren und Optimieren von Parameterkombinationen
- Schnelles und einfaches Berichtsskripting
JMP verfügt in der Halbleiterindustrie Taiwans über einen Marktanteil von 97 % und genießt großes Vertrauen. Es ist zu einer Referenzsprache für die Diskussion von Branchenproblemen geworden. Viele Unternehmen verwenden JMP zur Ausgabe von Analyseergebnissen, um eine langwierige Ergebnisüberprüfung zu vermeiden. Benutzer, die bei der Arbeit statistische Analysen benötigen, können mit dem benutzerfreundlichen Statistiktool JMP ihre Arbeitseffizienz um mehr als 30 % steigern.
Wenn Sie mehr über die oben erwähnte vollständige Halbleiteranalyse erfahren oder erfahren möchten, wie Taiwans erfahrene Berater für Halbleiteranalyse die Leistungsverbesserung durch Big Data-Analysen sehen, können Sie sich gerne für das Online-Seminar [ 2 wichtige Prozessfallanalysen: Statistisches Denken und Analysepraxis sind für Halbleiteringenieure unerlässlich ] anmelden, das am 20. Mai 2025 (Dienstag) um 14:00 Uhr von JMP Taiwan veranstaltet wird. In diesem Seminar zeigen erfahrene Berater für Halbleiteranalyse, wie sie mithilfe interaktiver Analyse-, Modellierungs- und Visualisierungsmethoden Halbleiterentwicklungsteams dabei unterstützen können, in kürzerer Zeit präzisere Prozess- und Ergebnisentscheidungen zu treffen. Prozess-, Test-, Qualitätssicherungs- und F&E-Ingenieure sowie Führungskräfte der mittleren Ebene aus der Halbleiterindustrie sind herzlich eingeladen, sich anzumelden. (Dieses Seminar wird in traditionellem Chinesisch abgehalten)
Haben Sie dieses Webinar verpasst? Nachfolgend finden Sie einige der Online-Ressourcen von JMP für die Halbleiterindustrie. Klicken Sie hier, um zu lesen, oder kontaktieren Sie unser Team direkt:
