離散データを用いた多次元空間の調査離散的なアイテムで構成された多次元空間を、DoEでどのように探索できるでしょうか？従来のDoEでは、ハイパースペースの各点にテストすべきアイテムが存在する可能性は低いでしょう。DoEが示唆する点に最も近い実際のアイテムを調査すべきでしょうか？それとも、DoEの設計プロセスに最初から離散的なデータを入力し、生成される設計には存在する離散的なアイテムのみが含まれるようにすることは可能でしょうか？
基本的なデータ分析とモデリングRe: 離散データを用いた多次元空間の調査「離散数値」タイプの係数を使用できます。
