순차적 CUSUM 순열 테스트를 사용하여 프로세스 변화 식별 순차적 CUSUM 순열 테스트를 사용하여 프로세스 변화 식별
넬슨 리 아파나도르, 수석 프로젝트 통계학자; 헤샴 M. 파미, 박사, 과학 펠로우, Merck & Co.
순차적 CUSUM 순열 검정에 기반한 새로운 변화점 감지 절차를 제시합니다. 이 새로운 절차는 공정 엔지니어에게 변동의 특수 원인을 찾는 데 유용한 정보를 제공하고, 근본 원인 식별 프로세스의 비용과 시간을 크게 줄일 수 있습니다. 새로운 절차는 R로 작성되었으며, 엔지니어와 과학자들이 이 새로운 도구를 더욱 실용적으로 사용할 수 있도록 JMP와 R을 통합하는 JMP GUI를 구축했습니다. 본 발표에서는 제조 공정의 변화점을 객관적으로 식별하기 위해 순차적 순열 검정을 사용하는 새로운 접근 방식을 검토합니다.
