通过药片残余应力的广义回归模型预测关键质量属性高山浩三（Kozo Takayama），城西大学药学系客座教授
片剂是重要的剂型，约占药物剂型的50%。除特殊情况外，片剂都是通过用研钵和研杵压制粉末或颗粒来制造的。因此，即使压力释放后，平板电脑内部仍会残留各种矢量的应力。已知残余应力与压片问题（如封盖和层压）密切相关。它还可能对与药片质量相关的重要特性产生显著影响。我们使用 Drucker-Prager-Cap 模型对粉末和颗粒的压实过程进行建模，并使用有限元方法估算片剂内的残余应力。通过对这些应力值应用广义回归模型（JMP Pro 14），可以高精度地预测片剂的质量特性，并确定影响质量特性的应力位置。在本次演讲中，我们将介绍使用不同配方和形状的片剂研究的例子，并讨论使用广义回归模型预测质量属性的可能性和局限性。
