Toshiba Electronic Devices & Storage Corporation, Abteilung für Zuverlässigkeitstechnologie für diskrete Halbleiter, Abteilung für Zuverlässigkeitstechnologie für diskrete Produkte, Koichi Endo Ricoh Company, Ltd. HC-Geschäftsabteilung, MI Business Center, General Manager des Büros für Qualitätssicherung und regulatorische Angelegenheiten, Motohisa Hirono
In Japan ist die Zuverlässigkeitsanalyse mithilfe von Weibull-Wahrscheinlichkeitspapieren weit verbreitet, und auch das Arrhenius-Modell verwendet Wahrscheinlichkeitspapier. Darüber hinaus wird die multivariate Analyse in Studien mit mehreren Beschleunigungsfaktoren selten verwendet. In diesem Bericht stellen wir zunächst den Missbrauch der Badewannenkurve und den Umgang damit vor. Als Nächstes stellen wir vor, wie nützlich und leistungsstark die in JMP integrierten Methoden zur Zuverlässigkeitsdatenanalyse sind.
