用统计方法评估和提高集成电路产品可靠性 用统计方法评估和提高集成电路产品可靠性
Yves Chandon，飞思卡尔模拟产品部六西格玛黑带
统计数据有助于在整个标准产品生命周期中提高可靠性。在设计和生产阶段，压力测试有助于识别弱点并估算使用寿命。质量控制测试有助于减少客户使用过程中的产品故障。最后，寿命分布可以预测缺陷率并模拟产品的可靠性，从而帮助改善客户服务响应。JMP 脚本可以帮助质量工程师成功预防缺陷并改进产品。在本次会议中，将使用为汽车行业生产的集成电路的可靠性分析作为案例研究，以展示 JMP 的强大功能和实用性。
