Robert Murphy( 르머피 ), Advanced Micro Devices 기술 직원
Jason Paquette( 제이슨.파켓 ), 제품 개발 엔지니어, Advanced Micro Devices
초록 — 설계 리소스 사용을 극대화하고 출시 시간을 최소화하기 위해 시스템 온 칩(SoC) 설계는 상당한 양의 기능 블록 재사용을 사용합니다. 이 재사용은 블록 수준에서 성능과 수율을 비교할 수 있는 기반을 제공하여 집중적인 디버깅 및 추가 최적화 기회를 제공합니다. 이 논문은 JMP의 Graph Builder 플랫폼에서 사용할 수 있는 사용자 지정 맵을 생성하는 프로세스를 안내합니다. 이 기술은 매우 상호 작용적인 도구로 공간적으로 구동되는 신호를 탐색하는 데 귀중한 접근 방식을 제공합니다. JMP에서 사용자 지정 맵의 힘을 활용하여 향상된 프로세스 개선을 추진합니다.
색인 용어 —맞춤형 맵, 하이퍼 히트맵, 근본 원인 분석, SoC, 시스템 온 칩, 수율.
I. 서론
오늘날의 SoC는 종종 성능과 전력 효율성을 끊임없이 높이는 최첨단 반도체 공정 기술을 기반으로 구축된 비교적 큰 장치입니다. 이는 I/O, 컴퓨팅 및 그래픽과 같은 다양한 칩 기능을 제공하는 복제 및 고유 블록의 배열로 구성됩니다. 이러한 블록은 다이에서의 물리적 위치에 따라 맵으로 표현될 수 있습니다. 이러한 유형의 맵을 JMP에서 사용자 지정 맵으로 사용하면 엔지니어 또는 분석가가 프로세스, 테스트 또는 수율 문제를 더 빠르게 디버깅할 수 있는 강력한 시각화를 만들 수 있습니다. 이는 결과적으로 수율 및 품질로의 빠른 램프를 지원하여 신제품 설계에 대한 투자 수익률(ROI)을 더 빠르게 달성할 수 있습니다. 웨이퍼에서의 물리적 위치에 따라 Graph Builder에서 다이 기반 히트맵을 결합하면 이전에는 눈에 띄지 않았던 효과가 드러납니다. 이는 많은 반도체 제조 과제가 웨이퍼 내의 공간적 위치(예: 센터 또는 에지 효과)에 크게 의존하기 때문입니다. 이러한 위치 종속성을 명확하게 설명하면 잠재적인 근본 원인 목록이 상당히 좁아지고 프로세스 개선이 가속화됩니다.
II. 사용자 지정 맵 사용의 이점
현재 엔지니어나 분석가가 이상치 응답을 식별하기 위해 선택할 수 있는 다양한 도구가 있습니다. 이러한 도구의 몇 가지 예로는 히스토그램과 상자 그림이 있습니다. 이러한 도구는 귀중하고 많이 활용되지만 패턴을 훨씬 더 빠르게 식별하기 위한 물리적 위치를 설명하는 기능이 부족합니다. 이러한 패턴을 이해하면 후속 분석 및 근본 원인 격리의 범위를 줄이는 데 도움이 되어 디버그 및 수율 개선을 위한 처리 시간이 단축됩니다.
이 논문은 반도체 산업에 초점을 맞추고 있지만, 사용자 정의 맵을 적용하면 공간 신호가 있는 많은 환경에서 유용하게 사용될 수 있습니다.
III. JMP에서 사용자 지정 맵 만들기
JMP에서 사용자 지정 맵 모양을 생성하는 것은 각 모양의 정점을 하나씩 연결하여 수행됩니다. 이를 위해 JMP에는 두 개의 정의 파일인 '-Name' 파일과 '-XY' 파일 형태로 정점 좌표 정보가 필요합니다. '-Name' 파일에는 필요한 숫자 모양 ID 와 이름 열이 포함되어 있고 '-XY' 파일에는 정점의 모양 ID, 부품 ID, X 및 Y 좌표가 포함되어 있습니다. 모양 ID 열은 '-XY' 파일의 좌표를 '-Name' 파일의 모양 이름에 연결합니다.
정점 좌표를 사용할 수 있으면 몇 단계만으로 '-Name' 및 '-XY' 파일을 생성할 수 있습니다.
좌표 파일을 요약하여 각 모양이 데이터 테이블에서 단일 행을 차지하도록 합니다. 오름차순(1부터 시작)으로 '모양 ID' 열을 만들어 각 모양에 고유한 ID를 부여합니다. 모양 ID는 테이블의 첫 번째 열이어야 합니다. 테이블을 ' $$$ -Name.jmp'로 저장합니다. 여기서 $$$ 는 선택한 접두사입니다. 이 파일에는 각 모양을 나타내는 사용자 친화적인 이름 열이 있어야 합니다. 이 열의 열 속성 내에서 Map Role을 선택하고 '모양 이름 정의'로 설정합니다(그림 1 참조). 이 열의 값은 오버레이의 원시 데이터를 연결하는 데 사용되므로 중요한 단계입니다.
- 무화과.1. 모양 이름 정의 맵 역할 속성 설정
원래 좌표 테이블이 여전히 열려 있는 상태에서 방금 만든 고유한 Shape ID 열을 병합하고 Shape ID를 기준으로 오름차순으로 테이블을 정렬합니다. 데이터 테이블을 ' $$$ -XY.jmp'로 저장합니다. 여기서 $$$는 '-Name' 파일에 사용된 것과 동일한 접두사여야 합니다.
이 '-XY' 파일에는 모양 ID , X , Y 및 부품 ID라는 네 개의 필수 열이 필요합니다. 현재 상태에서는 파일에 이 모든 정보가 있어야 하며 열 이름만 바꿔야 할 수도 있습니다. 그러나 부품 ID 열이 없습니다. 이 열은 기본적으로 특정 모양에 여러 개의 별도 부분이 있는지(예: 여러 섬으로 구성된 하와이주) JMP에 알려줍니다. 각 모양에 하나의 부분만 있는 경우가 많습니다. 이러한 경우 부품 ID 열을 모두 1로 설정할 수 있습니다. X 및 Y 열에는 각 모양의 각 정점에 대한 좌표가 포함됩니다. 강조할 만한 미묘한 세부 사항은 '-XY' 파일에서 각 모양의 정점이 나타나는 순서가 중요하다는 것입니다. 잘못 구성된 경우 모양이 부정확하게 표현될 수 있기 때문입니다. '-XY' 매핑 파일을 사용하여 JMP는 정점에서 정점으로(파일의 첫 번째 행에서 마지막 행까지) 모양을 추적합니다. 새 추적은 각 새 모양 ID 또는 부품 ID로 시작합니다. 그림 2는 꼭짓점의 순서가 간단한 직사각형 모양을 그리는 데 어떻게 차이를 만드는지 보여주는 예입니다.
- 무화과.2. 모양에 대한 올바른 정점 순서와 잘못된 정점 순서
원시 좌표 데이터가 여러 유형의 사용자 정의 맵에서 일관성을 유지하는 경우 '-XY' 및 '-Name' 모양 정의 파일을 만드는 JMP 스크립팅 언어(JSL) 스크립트가 유용합니다.
사용자 정의 맵 생성에 대한 자세한 내용은 다음 리소스를 확인하세요. 도움말>도움말 내용>필수 그래프>맵 만들기>그래프 빌더>사용자 정의 맵 파일.
마지막으로 주의할 점은 매핑이 올바르게 작동하려면 '-Name' 및 '-XY' 모양 정의 파일 모두 동일한 접두사를 사용하여 동일한 디렉토리에 저장해야 한다는 것입니다.
IV. 사용자 지정 맵 사용
정의 파일이 구성되면 데이터를 JMP로 가져올 수 있습니다. Graph Builder에서 데이터를 시각화하기 전에 데이터를 사용자 정의 맵 정의 파일에 연결하는 마지막 준비 단계가 필요합니다. '-Name' 파일에 정의된 모양 이름 정의 열에서 발견된 값과 정확히 일치하는 값이 있는 열이 데이터에 있어야 합니다. 그렇지 않으면 JMP에서 사용자 정의 맵을 연결할 수 없습니다.
데이터 테이블을 사용자 지정 맵에 연결하려면 모양 이름을 저장하는 데이터 테이블 내의 열 속성을 엽니다. 맵 역할 속성 내에서 '모양 이름 사용' 옵션이 선택되었는지 확인하고 '-Name' 파일을 '맵 이름 데이터 테이블'로 선택하고 적절한 모양 정의 열을 선택합니다(그림 3 참조). 참고로 JMP11에서는 이러한 옵션에 '-Name' 파일을 검색하는 대화형 파일 대화 상자가 없으므로 복사하여 붙여 넣거나 텍스트 상자에 입력해야 합니다(확장자 '.jmp' 포함).
- 무화과.3. 모양 이름 사용 맵 역할 파일 선택
JMP는 또한 소프트웨어가 자동으로 확인하는 특정 디렉토리에 '-Name' 및 '-XY' 파일을 배치하는 것을 지원합니다. 그러나 우리 애플리케이션에서는 서로 다른 SoC 제품 간에 서로 다른 매핑을 가진 동일한 모양 이름을 사용합니다. 따라서 이름 충돌을 피하기 위해 파일 선택 방법을 활용합니다. 컴퓨터의 운영 체제에 따라 자동 디렉토리 위치를 찾으려면 JMP의 도움말을 참조하세요.
모든 준비 작업이 완료되면 Graph Builder를 열고 데이터 테이블에서 링크된 모양 열을 끌어서 창의 왼쪽 하단 모서리에 있는 Map Shape 드롭 존으로 놓습니다(그림 4 참조). 그러면 JMP가 데이터 테이블에서 발견되고 모양 정의 파일에서도 발견되는 모든 모양 인스턴스로 디스플레이를 채웁니다.
- 무화과.4. 그래프 빌더 맵 모양 드롭 존 위치
데이터 테이블에서 찾은 특정 모양이 모양 정의 파일에서 인식되지 않는 경우가 있을 수 있습니다. 이는 이름이 동일하지 않거나, 명명 규칙이 다르거나, 단순히 나열되지 않았기 때문일 수 있습니다. 이러한 인식되지 않는 모양은 Graph Builder 창 하단에 '맵 모양을 찾을 수 없음'으로 표시됩니다(그림 5 참조). 이러한 누락된 모양을 통합하려면 모양 정의 파일과 일치하도록 데이터를 수정하거나 모양 정의 파일 자체를 업데이트해야 합니다.
- 무화과.5. 데이터의 모양이 인식되지 않을 때 그래프 빌더 표시
이 시점에서 데이터 열을 색상 드롭 영역으로 끌어서 놓으면 열 데이터와 모델링 유형에 따라 적절한 색상 오버레이가 제공됩니다.
다음 섹션에서는 다양한 사용 사례 시나리오와 성공 사례를 설명하는 몇 가지 자세한 예를 살펴보겠습니다.
V. 예
- A. 수확량 데이터
소개에서 언급한 대로 SoC 설계에서 블록 재사용을 통해 개별 블록의 성능과 수율을 비교할 수 있는 이점이 있습니다. Scan(플립플롭 및 공통 논리) 및 Built-In Self-Test(BIST, 메모리 테스트 및 수리)와 같은 테스트 절차를 블록 수준에서 처리하는 것은 매우 일반적입니다. SoC의 경우 이러한 블록을 타일이라고 합니다. 그림 6은 수천 개의 단위 결과를 집계하여 각 타일에 대한 특정 테스트의 수율을 보여줍니다. 빨간색으로 칠해진(흰색으로 번호가 매겨진) 타일은 수율이 낮은 이상치 타일로, 더 많은 주의가 필요합니다. 다음 하위 섹션에서는 이 보기에서 묘사할 때 명확하지 않은 이러한 이상치를 구동하는 또 다른 힘이 있다는 것을 보여드리겠습니다.
- 무화과.6. 이상치를 포함한 SoC 타일 수율 히트맵
- B. 하이퍼 히트맵
이전 수율 예시를 계속하면, 분명한 이상치 타일 세트가 있습니다. 그러나 무엇이 잘못되었는지는 명확하지 않습니다. 그림 7은 그룹 X 및 그룹 Y 드롭 존을 사용하여 웨이퍼의 각 다이 위치에 대한 각 SoC 타일 뷰를 중첩하는 하이퍼 히트맵을 보여줍니다. 밀도가 낮은 다이 위치는 타일 실패율이 낮습니다. 그림 6의 번호가 매겨진 이상치는 해당 타일 수율을 낮추는 다이 위치를 나타내는 그림 7에 추가되었습니다. 타일 1 , 2 및 3 의 경우 주된 이유는 특정 다이 X, Y 위치에 대해 웨이퍼 가장자리에 인접한 모서리 타일이기 때문입니다. 웨이퍼 가장자리 바로 옆에 있는 이러한 타일은 웨이퍼의 다른 영역에서는 발생하지 않는 웨이퍼 제조 공정에서 가장자리 영향을 받습니다. 많은 개체가 있는 하이퍼 히트맵을 보다 명확하게 보려면 색상 변수의 기준선 또는 예상 수준을 필터링하는 것이 유용할 수 있습니다. 그림 7은 이런 방식으로 필터링되었습니다. 타일 4 수율 폴아웃은 주로 웨이퍼 중앙에 집중되어 있으며, 여기에는 제조 공정으로 인한 알려진 변동 효과도 있습니다. 제조 공정은 웨이퍼 전체에 걸쳐 다양한 불균일성을 유발하는데, 이는 종종 중앙 또는 가장자리 영역에서 더 강합니다. 이 하이퍼 히트맵을 통해 타일 자체에 설계 최적화가 필요한지 여부를 확인하기 위해 리소스를 사용하지 않고도 문제 영역이 어디인지 빠르게 파악할 수 있었습니다.
- 무화과.7. 기준 수율 필터링을 통해 이상치 다이 위치를 강조하는 웨이퍼 수준 하이퍼 히트맵
- C. 매개변수 데이터
그림 8은 웨이퍼 레벨 하이퍼 히트맵에서 매개변수 데이터를 시각화하는 방법의 예입니다. 표시된 각 타일에는 아날로그 측정 구조가 포함되어 있으며, 이 값은 디바이스 성능과 상관관계를 나타내는 지표로 사용됩니다. 데이터 테이블에는 수백 개의 웨이퍼가 포함되어 있으며, 이 특정 뷰는 웨이퍼의 각 다이 위치에서 각 타일의 측정에 대한 평균값을 보여줍니다. 오버레이에 표시된 동심원에서 제조 공정의 익숙한 잔재가 명확하게 드러납니다.
- 무화과.8. 아날로그 특성화 구조의 웨이퍼 수준 하이퍼 히트맵
VI. 성공 사례
대량 생산 제품은 다른 제품보다 수확량이 떨어지는 눈에 띄는 이상치 타일을 보였습니다(그림 9 참조). 이 경우 빨간색은 수확량이 낮은 타일을 나타내고 파란색은 수확량이 더 높습니다.
- 그림 9. 이상치 타일 관찰을 통한 초기 SoC 수준 수율
히트맵을 활용한 추가 분석을 통해 이것이 웨이퍼 가장자리에 인접한 웨이퍼의 왼쪽 아래 가장자리에 있는 이상치 타일에 대한 체계적인 웨이퍼 가장자리 시그니처라는 사실을 발견했습니다(그림 10 참조). 이 신호는 파운드리의 주의를 끌었고, 이를 통해 그들은 공정 개선을 구현하게 되었습니다. 즉, 웨이퍼 가장자리의 극단에서 리소그래피 조정을 최적화했습니다. 이 공정 개선으로 인해 전체 웨이퍼 수율이 크게 향상되었습니다.
- 그림 10. 웨이퍼 하단 좌측 가장자리의 이상치 타일에 대한 웨이퍼 수준 관찰
하이퍼 히트맵 뷰 이전에는 이 수율 신호에 대한 초기 조사가 타일 자체에 집중되었습니다. 즉, 이 경우 잘못된 방향이었습니다. 웨이퍼 에지 수율 상관관계가 명확해지자 올바른 소유자는 즉시 지속적인 개선 노력을 시작할 수 있었습니다.
VII. 팁과 요령
에이.누락된 모양 표시
Graph Builder 플랫폼 내의 열 선택 상자 바로 아래에 누락된 모양 표시 라는 체크 상자가 있습니다. 이것을 선택하면 정의 파일에 있지만 현재 데이터 테이블에서 찾을 수 없는 모양의 윤곽이 디스플레이에 채워집니다(그림 11 참조). 이것은 누락된 데이터를 찾거나 맵의 전반적인 그림을 얻는 데 유용합니다.
- 그림 11. 그래프 빌더 누락된 모양 표시 체크박스
비.데이터 레이블 오버레이 활성화
모양 위에 마우스를 올리거나 각 모양 위에 레이블을 표시하는 기능을 활성화하면 패턴을 빠르게 식별하는 데 유용합니다. 선택한 열을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 레이블/레이블 해제를 처음으로 선택하면 Graph Builder에서 모양 위에 마우스를 올리면 열 데이터가 표시됩니다. 모양에 레이블을 정적으로 표시하려면 관심 있는 데이터 테이블에서 행을 선택하고 레이블/레이블 해제를 선택합니다.
기음.필터 및 열 전환기를 사용한 자동화
볼륨 데이터를 분석할 때 미묘한 패턴을 찾는 것은 힘든 작업일 수 있으며 마우스 클릭 횟수를 최소화하는 것이 항상 도움이 됩니다. 필터 자동화 및 열 전환기 기능(그래프 빌더 빨간색 화살표>스크립트)을 사용하면 다양한 조건의 방대한 공간 데이터를 스캔하는 효율적인 방법입니다.
디.JMP12를 사용한 프레임 페이징
Graph Builder 플랫폼은 최근 JMP12 업데이트에서 눈에 띄는 기능 업그레이드를 몇 가지 했습니다. 즉, 페이지 드롭 존을 사용하여 여러 프레임으로 분할할 수 있는 기능입니다. 이 드롭 존에 데이터 열을 배치하면 해당 열에서 발견된 고유 값의 수에 따라 Graph Builder 프레임의 여러 인스턴스가 생성됩니다. 보고서는 공유할 대화형 HTML 문서로 저장할 수 있습니다.
그리고.그룹 및 랩 드롭존을 사용한 프레임 분할
웨이퍼 하이퍼 히트맵의 예에서 볼 수 있듯이, 그룹 X 및 그룹 Y 드롭 존 내에서 중첩된 열을 사용하여 프레임을 분할할 수 있습니다. 웨이퍼 하이퍼 히트맵은 분할을 위해 다이 X 및 Y 좌표를 사용했지만, 어떤 열이든 사용할 수 있습니다. 자주 사용되는 다른 예로는 전압 테스트 지점, 테스트 온도 및 주파수 테스트 지점이 있습니다. 래핑 드롭 존은 더 효율적인 공간 사용과 유사한 기능을 제공하지만, 열 중첩은 사용할 수 없습니다. 그룹 변수를 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하면 사용자가 보기에서 레벨 수를 선택하여 관심 영역을 효과적으로 확대할 수 있습니다(그림 12 참조).
- 그림 12. 보기 옵션 내에서 레벨 선택그룹변수 영역
에프.그래프 빌더 색상 설정 수정
사용자 지정 맵 오버레이 데이터를 분석할 때 종종 색상 설정을 간단히 수정하면 이상치 패턴의 모양을 상당히 강조할 수 있습니다. 저자는 단일 방향 데이터(수율, 속도 등)에는 순차적 색상 테마를 사용하고 양면 데이터에는 발산적 색상 테마를 사용하는 어두운 배경(그래프>배경색)을 사용하는 것을 권장합니다. 색상 테마는 범례를 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하여 그래디언트 설정에서 액세스할 수 있습니다. 기본적으로 그래프 빌더는 각 모양 주위에 1픽셀 너비의 회색 테두리를 추가하는데, 이는 일부 작은 모양을 가릴 수 있습니다. 이 테두리를 제거하려면 프레임을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 사용자 지정>맵 모양을 선택하고 선 너비를 0으로 변경합니다.
VIII. 알려진 문제 및 주의 사항
- A. 겹쳐진 모양은 원하는 색상을 표시하지 않을 수 있습니다.
이는 사용자 지정 맵에 정의된 모양에 겹치는 영역이 있는 경우 발생합니다. 그림 13에서 에이씨피 및 지앤비 블록은 공통 영역을 공유하지만 색상은 하나만 사용됩니다. 이는 겹치는 모양이 포함된 사용자 지정 맵을 만들 때 주의해야 할 사항입니다.
- 그림 13. 두 개의 겹치는 모양의 잘못된 색상 오버레이
- B. 레이블을 끌어 포인터를 만들면 레이블이 없는 행이 표시됩니다.
그림 14는 원하는 레이블(점선 검은색 테두리)을 끌면 레이블이 없는 행에 외부 레이블(점선 빨간색 테두리)이 나타나는 방식을 보여줍니다. 이 문제는 JMP 12에서 수정되었습니다.
- 그림 14. 라벨(검정색)을 끌면 라벨이 없는 행이 나타납니다(빨간색).
- C. 보기에서 수준을 변경하면 프레임 사용자 정의가 재설정됩니다.
그림 15는 기본 보기에 대한 프레임 사용자 정의를 먼저 설정하고, 그룹 변수 중 하나를 사용하여 보기에서 4개 레벨을 선택하고, 마지막으로 원래 보기로 돌아갈 때 원래 적용되었던 사용자 정의가 손실되는 과정을 보여줍니다.
- 그림 15. 보기 기능에서 레벨 변경으로 인해 프레임 사용자 정의가 손실됨
- D. 맵 역할 열 속성 및 요약 테이블
열에 Map Role 속성이 적용되어 있고 데이터 테이블이 요약된 경우(해당 열 포함), Graph Builder는 열 속성을 인식하지 못합니다. Map Role 속성에 정의되어 있음에도 불구하고 모양 파일을 찾을 수 없다고만 말합니다. 해결 방법은 Map Role 속성을 제거하고 다시 추가하는 것입니다. 또는 파일을 저장하고 닫은 다음 다시 열면 Map Role 속성이 예상대로 작동합니다.
- E. 맵 역할 속성을 업데이트할 수 없습니다.
Map Role 열 속성을 사용할 때 속성을 설정하고 모양 정의 파일을 적용한 후 다른 파일을 선택하도록 변경해도 새 파일의 설정으로 업데이트되지 않는다는 점이 관찰되었습니다. 또한 모양 정의 열은 업데이트할 수 없습니다. 해결 방법은 Map Role 속성을 제거하고 새 파일 및 열 설정으로 다시 추가하는 것입니다.
IX. 향상 기회
Graph Builder 플랫폼 내의 사용자 지정 맵은 뛰어난 대화형 인터페이스로 공간 데이터와 상관관계가 있는 패턴을 분석하는 데 탁월한 성과를 보입니다. 이 논문에서 언급했듯이, 이 기능은 성공적인 근본 원인 분석을 가능하게 하여 실질적인 재정적 영향을 가져왔습니다. 이 기능을 광범위하게 사용하면 이점이 분명하며 몇 가지 최적화로 유용성을 확장하면 더 나은 결과를 얻을 수 있습니다.
저자들이 자신의 경험을 바탕으로 정리한 몇 가지 개선 기회는 다음과 같습니다.
에이.보기의 수준에 대한 추가 옵션
Graph Builder는 X 축과 Y 축 모두에 그룹 드롭 존을 사용하여 뷰를 분할하는 기능을 제공합니다. 오른쪽 클릭 메뉴는 뷰의 레벨 수를 설정하는 몇 가지 옵션을 제공하지만 상당히 엄격합니다(그림 16 참조). 종종 뷰의 레벨이 4개 이상(하지만 모두는 아님)이 필요하지만 현재 해당 옵션은 없습니다. 이것은 그룹 열의 값 수에 따라 동적으로 변경될 수 있습니다.
- 그림 16. 보기 옵션의 레벨이 1-4 또는 모두로 제한됨
비.다중 열 페이징 지원
이것은 마우스를 간단히 스크롤하여 여러 뷰를 빠르게 스캔하는 데 매우 유용한 기능입니다. 이 기능은 다른 플랫폼의 ' By' 기능과 유사하게 프레임을 분할하기 위해 두 개 이상의 열을 허용할 수 있다면 더욱 최적화될 수 있습니다. 지금 당장의 해결책은 새 열을 만들고 두 개 이상의 열에서 데이터를 연결하여 다른 조합을 얻는 것이지만, 여러 열 페이징이 더 깔끔한 솔루션이 될 것입니다.
X. 확인
저자는 JMP의 사용자 정의 맵 형식으로 변환하는 데 상당히 도움이 되는 AMD의 평면도 소프트웨어에 특수 출력 형식을 추가하는 데 도움을 준 Paul Shook에게 감사드리고 싶습니다. 또한 JMP에서 SoC 수율 시각화를 위한 사용자 정의 맵 사용을 평가하는 데 도움을 준 AMD의 동료 분석가에게도 감사드리고 싶습니다.
AMD, AMD Arrow 로고 및 이들의 조합은 Advanced Micro Devices, Inc.의 상표입니다. 이 출판물에 사용된 다른 제품 이름은 식별 목적으로만 사용되며 해당 회사의 상표일 수 있습니다.
