Niveau: Mittelstufe
Laura Lancaster, JMP Principal Research Statistician Developer, SAS
Annie Dudley Zangi, JMP Senior Research Statistician Developer, SAS
Die Qualitätswerkzeuge der zweiten Generation in JMP – Regelkarten-Generator, Prozessfähigkeitsanalyse, Messsystemanalyse und Prozessscreening – wurden nach einem integrativen Ansatz entwickelt, um Qualitätsanalysen einfacher und effektiver zu gestalten. So wurde beispielsweise die neue Plattform für Prozessfähigkeit so konzipiert, dass sie die im statistischen Prozesskontrollprogramm verwendete Regelkartenart widerspiegelt, und ein Fähigkeitsbericht wurde in den Regelkarten-Generator integriert. Ebenso ermöglicht der Shift Detection Profiler in der Messsystemanalyse-Plattform Qualitätsingenieuren fundierte Entscheidungen zur Gestaltung ihrer Regelkartenmethodik unter Berücksichtigung ihres Messsystems, um schnellstmöglich über Prozessänderungen informiert zu werden. Das Verständnis des Zusammenspiels von Messsystem, statistischem Prozesskontrollprogramm und Prozessfähigkeitsbewertungen ist entscheidend für die Verbesserung und Aufrechterhaltung der Qualität. Die einzigartige Designphilosophie der Software macht dies einfach und unkompliziert. Darüber hinaus spart die Möglichkeit, mit der neuen Plattform für Prozessscreening schnell eine große Anzahl von Prozessen auf Stabilität zu prüfen, Zeit, reduziert den Arbeitsaufwand und verbessert die Qualität. Diese Sitzung zeigt anhand einer Fallstudie, wie jede dieser Plattformen im Rahmen eines integrierten Prozessverbesserungsansatzes eingesetzt werden kann.
