검사 장비 검증을 위한 JMP 베타 분석 사용Thorsten Roberts, 미국 육군 ARDEC
배경 - DoD 애플리케이션을 위한 제조 공정에서 생산 라인은 종종 개별 품목을 수락하기 위한 최종 검사 또는 합의된 제품 샘플을 기반으로 하는 제품 로트로 자동 수락 검사 장비(AAIE)를 통합합니다. AAIE 자체는 제조 라인에서 사용하기 위해 수락되어야 합니다. 최근 AAIE는 제조된 결함을 성공적으로 거부하고 허용 오차로 제조된 부품을 거부하지 못하는 여러 마스터를 검사해야 했습니다. AAIE의 실패율은 일반적으로 1/1000 미만의 하한 신뢰 한계가 필요했습니다. 이 상황에서 설정 시간을 포함한 단일 검사를 완료하는 데 약 1시간이 필요했습니다. 검사 실패가 없는 80% 일방적 하한 신뢰 한계에서 최소 1610개의 검사가 필요합니다. 이는 수락 장비 검증을 위한 이진 결과의 약 1년 전체 테스트입니다. 가변 검증 데이터의 대체 분석을 사용하면 훨씬 적은 시도로 AAIE를 적격화할 수 있습니다.
