David Lee , Director de Calidad y Confiabilidad, OLEDWorks
Cada experimento genera múltiples tipos de datos, cada uno de los cuales requiere análisis y controles únicos debido a la naturaleza submicrónica de un innovador diodo orgánico emisor de luz (OLED). Se analizarán tres métodos de datos específicos. En primer lugar, la premisa del estudio se centra en un diseño de cribado definitivo de seis factores, desarrollado con las nuevas funciones incorporadas en JMP 13 para mejorar la potencia y la detección de señales. Se modelaron múltiples respuestas con un modelo de defectos generado mediante el uso de estudios de perfilador y simulación. En segundo lugar, se monitorizan continuamente los dispositivos para detectar pérdida de radiancia en una prueba de desvanecimiento acelerado. Con frecuencia, los dispositivos se retiran de la prueba antes de alcanzar su punto de fallo. Los tiempos de fallo previstos se pueden estimar utilizando un modelo no lineal personalizado en las plataformas de degradación de la fiabilidad o de modelos no lineales. Posteriormente, los tiempos de fallo estimados se incorporaron a las técnicas de supervivencia paramétrica tradicionales, así como a las nuevas funciones de la plataforma de regresión generalizada. Por último, se recopilan datos de radiancia en todo el espectro visual, lo que genera aproximadamente 100 respuestas correlacionadas.
