Par le passé, ULIS a été confronté à une crise majeure qui a impacté la fonctionnalité de ses principaux produits. L'application JMP® a été utilisée avec succès lors des trois principales étapes de la résolution de la crise, grâce à la méthodologie 8D :
- - Description du problème :
- Un calcul d’intervalle de confiance a été utilisé afin de comparer les taux de défaillance par produit.
- La « plateforme de puissance » a été utilisée afin de déterminer si le défaut était présent à l’origine ou s’il était causé par une dérive du processus.
- Des cartes de wafer personnalisées ont été créées sur la plateforme « Graph Builder » afin de localiser le défaut sur les wafers de silicium. L'interface conviviale du générateur de graphes a également permis de créer des chronogrammes de l'historique des processus par lots et de déterminer le moment d'apparition du problème.
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- - Analyse des causes profondes et mesures correctives permanentes :
- En utilisant la « plate-forme de distribution » du concepteur personnalisé de JMP ® et en créant des expériences de criblage et de surface de réponse, il a été constaté qu'une variation du débit de gaz affectait le taux de défaillance.
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- Validation de l'efficacité des actions correctives permanentes :
- La « plateforme de puissance » a été utilisée pour déterminer la taille minimale obligatoire de l’échantillon pour valider l’efficacité de l’action corrective avec un niveau de confiance raisonnable (puissance = 80 %).
Enfin, JMP ® a été un contributeur clé au succès de cette résolution de crise.
