Surveillance paramétrique du score Z de fiabilité
Han Cheng Ong, Seagate Technology International
L'ingénierie de la fiabilité est principalement axée sur l'analyse du pourcentage d'unités survivantes à un instant T. En effet, le suivi des performances paramétriques du produit est également crucial dans les domaines où le taux de défaillance est faible ou les tests coûteux. Le suivi des paramètres de fiabilité nous permet de fournir un retour d'information à l'équipe sur les points faibles afin d'apporter des améliorations au produit dès les premières étapes de conception. Un système a été développé pour extraire et stocker les données paramétriques de fiabilité dans une base de données Oracle. Pour chaque paramètre surveillé, ses statistiques descriptives peuvent être tabulées et représentées graphiquement selon différentes configurations de produit. La plateforme de scripts JMP est utilisée pour cela. Les paramètres peuvent être comparés par configuration de lot ou par performance dans le temps. Outre les statistiques descriptives habituelles telles que la moyenne et l'écart type, une mesure de conception Six Sigma (DFSS) est utilisée. L'ensemble de données pour chaque configuration de test est ajusté à la distribution à l'aide de tous les modèles paramétriques disponibles dans JMP. La distribution la mieux ajustée est utilisée pour obtenir le PPM avec les limites de spécification pour le calcul du score Z (mesure de qualité DFSS) du paramètre. Les scores Z sont tabulés et représentés graphiquement à des fins de suivi comme indicateurs de qualité.
