Penalización de sus modelos: una descripción general de la plataforma de regresión generalizadaAutores
Michael Crotty, PhD, JMP, estadístico de investigación, SAS
Clay Barker, PhD, JMP Estadístico de investigación, SAS
Presentaremos una descripción general de la personalidad de la Regresión Generalizada de la plataforma Fit Model, incorporada en JMP Pro 11. Se explicará la motivación para usar la regresión penalizada y se mostrarán varios ejemplos de cómo se puede usar la plataforma para la selección de variables en datos continuos o de conteo. También se presentará un avance de las funciones de Regresión Generalizada que se incorporarán en JMP Pro 12.
